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澤攸科技

澤攸科技專注于掃描電鏡、原位測(cè)量系統(tǒng)、臺(tái)階儀、探針臺(tái)、電子束光刻機(jī)等精密設(shè)備的研究,填補(bǔ)了國(guó)家在科學(xué)精密儀器領(lǐng)域的諸多空白。

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全自動(dòng)臺(tái)階儀JS2000C/3000C

型號(hào): JS2000C/3000C
品牌: ZEPTOOLS(澤攸科技)

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 臺(tái)階高度最大范圍 160um
  • 臺(tái)階高度重復(fù)性 ≤0.5nm
  • 探針加力范圍 0.5mg~50mg
  • 注釋 詳情咨詢澤攸科技

--- 產(chǎn)品詳情 ---

? 產(chǎn)品介紹

澤攸科技JS系列臺(tái)階儀作為國(guó)產(chǎn)高精度表面測(cè)量設(shè)備的代表,憑借其創(chuàng)新的技術(shù)架構(gòu)、靈活的應(yīng)用場(chǎng)景及可靠的測(cè)量性能,可以對(duì)微納結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和臺(tái)階高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量,在高校、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所、半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體、高亮度LED、太陽能、MEMS微機(jī)電、觸摸屏、汽車、醫(yī)療設(shè)備等行業(yè)領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用。

JS系列臺(tái)階儀通過金剛石探針與樣品表面的接觸掃描,將微觀輪廓的垂直位移轉(zhuǎn)化為電信號(hào),結(jié)合高靈敏度傳感器與信號(hào)處理算法,實(shí)現(xiàn)納米級(jí)精度的表面特征捕捉。其核心技術(shù)亮點(diǎn)在于超微壓力恒定控制系統(tǒng),通過精密調(diào)節(jié)探針與樣品間的接觸壓力,既避免了對(duì)軟質(zhì)材料的損傷,又確保了測(cè)量過程的穩(wěn)定性。此外,設(shè)備搭載的攝像頭實(shí)時(shí)成像系統(tǒng),可同步觀察樣品區(qū)域與探針尖端的位置關(guān)系,輔助用戶精確定位特征結(jié)構(gòu),顯著提升測(cè)量效率。

作為國(guó)產(chǎn)科學(xué)儀器的突破性成果,JS系列臺(tái)階儀打破了國(guó)外品牌在高端表面測(cè)量設(shè)備領(lǐng)域的長(zhǎng)期壟斷,憑借高性價(jià)比與本地化服務(wù)優(yōu)勢(shì),成為國(guó)內(nèi)高校、科研機(jī)構(gòu)及制造企業(yè)的優(yōu)選設(shè)備。


? 特點(diǎn)

量測(cè)精確、功能豐富、一體式集成、模塊化設(shè)計(jì)、售后便捷、極高性價(jià)比


? 應(yīng)用范圍

▲ 刻蝕、沉積和薄膜等厚度測(cè)量

▲ 薄膜多晶硅等粗糙度、翹曲度等材料表面參數(shù)測(cè)量

▲ 各式薄膜等應(yīng)力測(cè)量

▲ 3D掃描成像

▲ 計(jì)劃任務(wù)和多點(diǎn)掃描

▲ 批量測(cè)試晶圓,批量處理數(shù)據(jù)等


? 技術(shù)參數(shù)

關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)

指標(biāo)要求

臺(tái)階高度最大范圍

160um

臺(tái)階高度重復(fù)性

≤0.5nm

探針加力范圍

0.5mg~50mg

單次掃描長(zhǎng)度

≤55mm

晶圓尺寸

可兼容6寸、8寸Wafer

晶圓厚度

≤50mm

晶圓材質(zhì)

硅、鉭酸鋰、玻璃等(不透明,半透明,透明)

圖像識(shí)別系統(tǒng)精度

定位精度優(yōu)于±10um

機(jī)械動(dòng)作穩(wěn)定性

馬拉松傳送測(cè)試>500片

生產(chǎn)效率

WPH≥10片(單面量測(cè)>=5個(gè)位置)


? 軟件界面


? 掃描圖

18nm樣品

68um樣品

 

懇請(qǐng)注意:因市場(chǎng)發(fā)展和產(chǎn)品開發(fā)的需要,本產(chǎn)品資料中有關(guān)內(nèi)容可能會(huì)根據(jù)實(shí)際情況隨時(shí)更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請(qǐng)諒解。如有疑問或需要更多詳細(xì)信息,請(qǐng)隨時(shí)聯(lián)系澤攸科技咨詢。

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