動(dòng)態(tài)
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發(fā)布了文章 2025-08-29 18:01
薄膜測(cè)厚選臺(tái)階儀還是橢偏儀？針對(duì)不同厚度范圍提供技術(shù)選型指南
在現(xiàn)代工業(yè)與科研中，薄膜厚度是決定材料腐蝕性能、半導(dǎo)體器件特性以及光學(xué)與電學(xué)性質(zhì)的關(guān)鍵參數(shù)。精準(zhǔn)測(cè)量此參數(shù)對(duì)于工藝優(yōu)化、功能材料理解及反向工程都至關(guān)重要。其中，臺(tái)階儀通過(guò)直接測(cè)量薄膜與暴露基底之間的物理高度差，為實(shí)現(xiàn)厚膜層的簡(jiǎn)單、直接測(cè)量提供了經(jīng)典方案。而光譜橢偏儀則利用光與薄膜相互作用的偏振態(tài)變化，兼具非破壞性、快速測(cè)量與提取材料光學(xué)常數(shù)的優(yōu)勢(shì)，成為表征透2.3k瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-08-27 18:04
橢偏儀的原理和應(yīng)用 | 薄膜材料或塊體材料光學(xué)參數(shù)和厚度的測(cè)量
橢偏儀是一種基于橢圓偏振分析的光學(xué)測(cè)量?jī)x器，通過(guò)探測(cè)偏振光與樣品相互作用后偏振態(tài)的變化，獲取材料的光學(xué)常數(shù)和結(jié)構(gòu)信息。Flexfilm全光譜橢偏儀可以非接觸對(duì)薄膜的厚度與折射率的高精度表征，廣泛應(yīng)用于薄膜材料、半導(dǎo)體和表面科學(xué)等領(lǐng)域,在材料光學(xué)特性分析領(lǐng)域具有重要地位。1橢偏儀的基本原理flexfilm當(dāng)偏振光波穿過(guò)介質(zhì)時(shí)，會(huì)與介質(zhì)發(fā)生相互作用，這種作用會(huì)改875瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-08-25 18:05
臺(tái)階儀測(cè)量膜厚的方法改進(jìn)：通過(guò)提高膜厚測(cè)量準(zhǔn)確性優(yōu)化鍍膜工藝
隨著透明與非透明基板鍍膜工藝的發(fā)展，對(duì)膜層厚度的控制要求日益嚴(yán)格。臺(tái)階儀作為一種常用的膜厚測(cè)量設(shè)備，在實(shí)際使用中需通過(guò)刻蝕方式制備臺(tái)階結(jié)構(gòu)，通過(guò)測(cè)量臺(tái)階高度進(jìn)行膜層厚度測(cè)量。費(fèi)曼儀器致力于為全球工業(yè)智造提供提供精準(zhǔn)測(cè)量解決方案，F(xiàn)lexfilm探針式臺(tái)階儀可以精確多種薄膜樣品的薄膜厚度。然而，刻蝕過(guò)程中若邊界處理不佳，會(huì)導(dǎo)致臺(tái)階不平行、測(cè)量誤差大、重現(xiàn)性差等778瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-08-22 18:09
橢偏儀在OLED中的應(yīng)用丨多層薄膜納米結(jié)構(gòu)的各膜層厚度高精度提取
在OLED顯示器中的多層超薄膜疊加結(jié)構(gòu)的橢偏測(cè)量應(yīng)用中，需要同時(shí)提取多層超薄膜堆棧各層薄膜厚度值，而膜層與膜層間的厚度也會(huì)有強(qiáng)耦合性會(huì)導(dǎo)致測(cè)量的不確定性增加。某些膜層對(duì)總體測(cè)量數(shù)據(jù)的靈敏度也極低，導(dǎo)致部分膜層厚度測(cè)量結(jié)果偏離真實(shí)值。對(duì)此本文構(gòu)建了一套針對(duì)超薄膜橢偏測(cè)量靈敏度和唯一性評(píng)估模型，應(yīng)用于超薄膜待測(cè)參數(shù)高精度的提取，并結(jié)合在國(guó)內(nèi)領(lǐng)先測(cè)量供應(yīng)商費(fèi)曼儀器 -
發(fā)布了文章 2025-08-20 18:02
臺(tái)階儀1分鐘測(cè)半導(dǎo)體激光芯片Smile值，實(shí)測(cè)16組LDA芯片誤差<1μm
半導(dǎo)體激光陣列LDA芯片作為大功率半導(dǎo)體激光器的核心部件，其封裝質(zhì)量直接決定了半導(dǎo)體激光器的可靠性。本文采用Flexfilm探針式臺(tái)階儀結(jié)合探針掃描法測(cè)量Smile效應(yīng)，能夠?qū)DA芯片批量化封裝的生產(chǎn)過(guò)程中芯片Smile效應(yīng)進(jìn)行實(shí)時(shí)的在線監(jiān)測(cè)，從而保障封裝工藝的穩(wěn)定性，提高封裝良品率。1Smile效應(yīng)抑制flexfilm半導(dǎo)體激光陣列器件工作時(shí)，各個(gè)發(fā)光單1.1k瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-08-18 18:02
汽車(chē)玻璃透光率≥70%的隔熱膜制備：優(yōu)化工藝參數(shù)提升透光與隔熱性能
汽車(chē)玻璃作為汽車(chē)的重要組成部分直接影響駕乘舒適度。汽車(chē)玻璃隔熱膜需滿足前擋風(fēng)玻璃可見(jiàn)光透過(guò)率≥70%（國(guó)標(biāo)要求），同時(shí)具備高紅外阻隔率。本文基于磁控濺射技術(shù)，在玻璃基底上制備TiO?/Ag/TiO?三層結(jié)構(gòu)隔熱膜，通過(guò)優(yōu)化工藝參數(shù)提升光學(xué)與隔熱性能，滿足節(jié)能環(huán)保需求。費(fèi)曼儀器在汽車(chē)工業(yè)領(lǐng)域從研發(fā)、生產(chǎn)到質(zhì)檢的全流程中均有嚴(yán)格監(jiān)控。Flexfilm汽車(chē)玻璃透過(guò) -
發(fā)布了文章 2025-08-15 18:01
橢偏儀薄膜測(cè)量原理和方法：光學(xué)模型建立和仿真
橢偏技術(shù)是一種非接觸式、高精度、多參數(shù)等光學(xué)測(cè)量技術(shù)，是薄膜檢測(cè)的最好手段。本文以橢圓偏振基本原理為基礎(chǔ)，重點(diǎn)介紹了光學(xué)模型建立和仿真，為橢偏儀薄膜測(cè)量及誤差修正提供一定的理論基礎(chǔ)。費(fèi)曼儀器作為國(guó)內(nèi)領(lǐng)先的薄膜材料檢測(cè)解決方案提供商，致力于為全球工業(yè)智造提供精準(zhǔn)測(cè)量解決方案。其中Flexfilm全光譜橢偏儀可以精確量化薄膜的折射率、消光系數(shù)及厚度參數(shù)。1橢圓偏 -
發(fā)布了文章 2025-08-13 18:05
臺(tái)階儀表征MEMS壓力傳感器硅槽刻蝕：TMAH80℃下薄膜良率達(dá)到92.67%
當(dāng)前MEMS壓力傳感器在汽車(chē)、醫(yī)療等領(lǐng)域的應(yīng)用廣泛，其中應(yīng)力敏感薄膜的厚度是影響傳感器性能的關(guān)鍵一，因此刻蝕深度合格且均勻性良好的薄膜至關(guān)重要。費(fèi)曼儀器作為薄膜測(cè)量技術(shù)革新者，致力于為全球工業(yè)智造提供精準(zhǔn)測(cè)量解決方案。Flexfilm探針式臺(tái)階儀進(jìn)行刻蝕深度測(cè)試，進(jìn)行表面粗糙度、表面形貌及均勻性的調(diào)控，直接支撐刻蝕深度與均勻性的精準(zhǔn)評(píng)估。本研究聚焦四甲基氫氧 -
發(fā)布了文章 2025-08-11 18:02
橢偏儀與DIC系統(tǒng)聯(lián)用測(cè)量半導(dǎo)體超薄圖案化SAM薄膜厚度與折射率
超薄膜的表征技術(shù)對(duì)確定半導(dǎo)體薄膜材料（如金屬、金屬氧化物、有機(jī)薄膜）的最佳性能至關(guān)重要。本研究提出將微分干涉相襯DIC系統(tǒng)與橢偏儀聯(lián)用表征超薄圖案化自組裝單分子膜（SAM）：通過(guò)DIC實(shí)時(shí)提供高對(duì)比度圖像指導(dǎo)測(cè)量位置，結(jié)合改進(jìn)的橢偏分析模型，實(shí)現(xiàn)對(duì)圖案化SAM薄膜厚度與折射率的高精度無(wú)損表征。費(fèi)曼儀器薄膜厚度測(cè)量技術(shù)貫穿于材料研發(fā)、生產(chǎn)監(jiān)控到終端應(yīng)用的全流程 -
發(fā)布了文章 2025-08-08 18:03
臺(tái)階儀測(cè)量膜厚：揭示氫離子遷移對(duì)磁性薄膜磁性的調(diào)控規(guī)律
磁性薄膜材料是電子器件小型化的基礎(chǔ)，被廣泛應(yīng)用在生物、化學(xué)、環(huán)境和計(jì)算機(jī)等領(lǐng)域。本文聚焦電場(chǎng)驅(qū)動(dòng)的氫離子（H?）調(diào)控磁性薄膜的磁性，對(duì)Pt/Co、Pt/CoFe、Pt/CoFeB、Pt/FeNi結(jié)構(gòu)薄膜中利用H?驅(qū)動(dòng)的磁性調(diào)控進(jìn)行探索研究。費(fèi)曼儀器致力于為全球工業(yè)智造提供提供精準(zhǔn)測(cè)量解決方案，F(xiàn)lexfilm探針式臺(tái)階儀可以精確測(cè)量磁控濺射技術(shù)制備多種磁性薄
