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臺(tái)階儀測(cè)量膜厚的方法改進(jìn):通過(guò)提高膜厚測(cè)量準(zhǔn)確性?xún)?yōu)化鍍膜工藝

Flexfilm ? 2025-08-25 18:05 ? 次閱讀
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隨著透明與非透明基板鍍膜工藝的發(fā)展,對(duì)膜層厚度的控制要求日益嚴(yán)格。

臺(tái)階儀作為一種常用的膜厚測(cè)量設(shè)備,在實(shí)際使用中需通過(guò)刻蝕方式制備臺(tái)階結(jié)構(gòu),通過(guò)測(cè)量臺(tái)階高度進(jìn)行膜層厚度測(cè)量。費(fèi)曼儀器致力于為全球工業(yè)智造提供提供精準(zhǔn)測(cè)量解決方案,Flexfilm探針式臺(tái)階儀可以精確多種薄膜樣品的薄膜厚度。然而,刻蝕過(guò)程中若邊界處理不佳,會(huì)導(dǎo)致臺(tái)階不平行、測(cè)量誤差大、重現(xiàn)性差等問(wèn)題。為此,本文通過(guò)一系列對(duì)照試驗(yàn),系統(tǒng)排查影響因素并提出改進(jìn)方法。

1

臺(tái)階儀測(cè)試膜層方法

flexfilm

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膜層示意圖

測(cè)試前需將鍍膜樣品一側(cè)的膜層通過(guò)刻蝕去除,形成基準(zhǔn)面,與保留膜層的一側(cè)構(gòu)成臺(tái)階結(jié)構(gòu)。通過(guò)臺(tái)階儀測(cè)量高度差,從而得到膜層厚度。

2

樣品浸泡方向?qū)y(cè)試結(jié)果的影響

flexfilm

為了讓樣品膜層面和基準(zhǔn)面形成臺(tái)階,進(jìn)行測(cè)試,本研究采用一種耐刻蝕的膠帶,將已鍍膜的樣品一側(cè)用膠帶粘貼后,再放入能溶解膜層物質(zhì)的液體中進(jìn)行刻蝕(以粘貼了膠帶的一面作為測(cè)試面,以下簡(jiǎn)稱(chēng)B面)。

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樣品制備圖示

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玻璃基板B面朝上和朝下放置示意圖

使用耐刻蝕膠帶粘貼樣品一側(cè)(B面),放入刻蝕液中處理。分別將10個(gè)樣品B面朝上和10個(gè)朝下進(jìn)行刻蝕對(duì)比。結(jié)果表明:

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刻蝕后測(cè)試圖像左:B面朝上;右:B面朝下

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B面朝上:刻蝕后基準(zhǔn)面水平,膜層清除徹底,臺(tái)階清晰平行,數(shù)據(jù)偏差小(平均1112 ?,極差0.02%),重現(xiàn)性高。

B面朝下刻蝕不徹底,基準(zhǔn)面傾斜,數(shù)據(jù)波動(dòng)大(平均1075?,極差0.12%),重現(xiàn)性差。

結(jié)論刻蝕時(shí)應(yīng)將粘貼膠帶的一面(B面)朝上放置。

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膠帶粘貼方式對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響

flexfilm

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樣品準(zhǔn)備

直接粘貼膠帶刻蝕會(huì)導(dǎo)致邊緣刻蝕不均勻,測(cè)試數(shù)據(jù)圖像臺(tái)階凹凸不平,測(cè)試結(jié)果重復(fù)性不好,數(shù)據(jù)偏差大。大量實(shí)踐發(fā)現(xiàn):粘貼膠帶后,用刀片沿虛線劃開(kāi)并撕去部分膠帶(A部分),再進(jìn)行了刻蝕。測(cè)試樣品左側(cè)基準(zhǔn)面和膜層面之間形成的整齊的臺(tái)階, 得到膜層厚度值。

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樣品測(cè)試圖像:左:未用刀片劃??;右:用刀片劃取過(guò)

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劃取與不劃取膠帶后刻蝕數(shù)據(jù)對(duì)比圖

不劃取膠帶平均值1128?,極差0.089%,4個(gè)數(shù)據(jù)超出控制規(guī)格(1110±30?)。

劃取后刻蝕平均值1103?,極差0.032%,所有數(shù)據(jù)均在規(guī)格內(nèi)。

結(jié)論粘貼膠帶后先劃去邊緣部分再刻蝕,可顯著提高測(cè)試的準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性。

4

其他因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響

flexfilm

通過(guò)大量實(shí)踐表明:樣品表面清潔度也影響測(cè)量結(jié)果。尤其是膠帶邊緣殘留的污漬或酒精擦拭不徹底,會(huì)干擾測(cè)試,必須保證樣品表面潔凈無(wú)污染。

通過(guò)系統(tǒng)試驗(yàn),采用臺(tái)階儀測(cè)試膜層厚度的影響因素有:刻蝕時(shí)樣品放置方向(應(yīng)使粘貼面朝上);膠帶處理方法(需用刀片劃取邊緣后再刻蝕);樣品表面清潔度(需徹底清潔避免污染)。實(shí)施上述改進(jìn)措施后,膜層厚度測(cè)試的準(zhǔn)確性、穩(wěn)定性和重現(xiàn)性均得到顯著提升

Flexfilm探針式臺(tái)階儀

flexfilm

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半導(dǎo)體、光伏、LED、MEMS器件、材料等領(lǐng)域,表面臺(tái)階高度、膜厚的準(zhǔn)確測(cè)量具有十分重要的價(jià)值,尤其是臺(tái)階高度是一個(gè)重要的參數(shù),對(duì)各種薄膜臺(tái)階參數(shù)的精確、快速測(cè)定和控制,是保證材料質(zhì)量、提高生產(chǎn)效率的重要手段。

  • 配備500W像素高分辨率彩色攝像機(jī)
  • 亞埃級(jí)分辨率,臺(tái)階高度重復(fù)性1nm
  • 360°旋轉(zhuǎn)θ平臺(tái)結(jié)合Z軸升降平臺(tái)
  • 超微力恒力傳感器保證無(wú)接觸損傷精準(zhǔn)測(cè)量

費(fèi)曼儀器作為國(guó)內(nèi)領(lǐng)先的薄膜厚度測(cè)量技術(shù)解決方案提供商,Flexfilm探針式臺(tái)階儀可以對(duì)薄膜表面臺(tái)階高度、膜厚進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量,保證材料質(zhì)量、提高生產(chǎn)效率。

原文參考:《采用臺(tái)階儀測(cè)試膜層厚度時(shí)影響準(zhǔn)確性的方法改進(jìn)》

*特別聲明:本公眾號(hào)所發(fā)布的原創(chuàng)及轉(zhuǎn)載文章,僅用于學(xué)術(shù)分享和傳遞行業(yè)相關(guān)信息。未經(jīng)授權(quán),不得抄襲、篡改、引用、轉(zhuǎn)載等侵犯本公眾號(hào)相關(guān)權(quán)益的行為。內(nèi)容僅供參考,如涉及版權(quán)問(wèn)題,敬請(qǐng)聯(lián)系,我們將在第一時(shí)間核實(shí)并處理。

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