動(dòng)態(tài)
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發(fā)布了文章 2025-07-23 14:32
晶圓清洗工藝有哪些類型
晶圓清洗工藝是半導(dǎo)體制造中的關(guān)鍵步驟,用于去除晶圓表面的污染物(如顆粒、有機(jī)物、金屬離子和氧化物),確保后續(xù)工藝(如光刻、沉積、刻蝕)的良率和器件性能。根據(jù)清洗介質(zhì)、工藝原理和設(shè)備類型的不同,晶圓清洗工藝可分為以下幾類:1.濕法清洗(WetCleaning)(1)槽式清洗(BatchCleaning)原理:將多片晶圓(通常25-50片)放入化學(xué)槽中,依次浸泡807瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-07-22 16:54
晶圓清洗后表面外延顆粒要求
晶圓清洗后表面外延顆粒的要求是半導(dǎo)體制造中的關(guān)鍵質(zhì)量控制指標(biāo),直接影響后續(xù)工藝(如外延生長、光刻、金屬化等)的良率和器件性能。以下是不同維度的具體要求和技術(shù)要點(diǎn):一、顆粒污染的核心要求顆粒尺寸與數(shù)量小尺寸晶圓(2-6英寸):允許顆粒尺寸通?!?μm,數(shù)量控制在<1000顆/cm2(具體取決于工藝節(jié)點(diǎn))。部分應(yīng)用(如功率器件)可接受更低標(biāo)準(zhǔn),但需避免肉眼可見污1.1k瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-07-22 16:51
不同晶圓尺寸清洗的區(qū)別
不同晶圓尺寸的清洗工藝存在顯著差異,主要源于其表面積、厚度、機(jī)械強(qiáng)度、污染特性及應(yīng)用場景的不同。以下是針對(duì)不同晶圓尺寸(如2英寸、4英寸、6英寸、8英寸、12英寸等)的清洗區(qū)別及關(guān)鍵要點(diǎn):一、晶圓尺寸與清洗挑戰(zhàn)小尺寸晶圓(2-6英寸)特點(diǎn):面積小、厚度較?。ㄈ?英寸晶圓厚度約500μm),機(jī)械強(qiáng)度低,易受流體沖擊損傷。挑戰(zhàn):清洗槽體積較小,易因流體不均勻?qū)е?1.1k瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-07-21 14:42
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發(fā)布了文章 2025-07-21 14:38
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發(fā)布了產(chǎn)品 2025-07-15 15:25
QDR清洗設(shè)備 芯矽科技
產(chǎn)品型號(hào):qdrqxsb 非標(biāo)定制:根據(jù)客戶需求定制130瀏覽量 -
發(fā)布了產(chǎn)品 2025-07-15 15:14
臥式石英管舟清洗機(jī) 芯矽科技
產(chǎn)品型號(hào):wssygzqxj 非標(biāo)定制:根據(jù)需求定制47瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-07-15 15:00
晶圓蝕刻擴(kuò)散工藝流程
晶圓蝕刻與擴(kuò)散是半導(dǎo)體制造中兩個(gè)關(guān)鍵工藝步驟,分別用于圖形化蝕刻和雜質(zhì)摻雜。以下是兩者的工藝流程、原理及技術(shù)要點(diǎn)的詳細(xì)介紹:一、晶圓蝕刻工藝流程1.蝕刻的目的圖形化轉(zhuǎn)移:將光刻膠圖案轉(zhuǎn)移到晶圓表面,形成所需的電路或結(jié)構(gòu)(如金屬線、介質(zhì)層、硅槽等)。材料去除:通過化學(xué)或物理方法選擇性去除暴露的薄膜或襯底。2.蝕刻分類干法蝕刻:依賴等離子體或離子束(如ICP、R665瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-07-15 14:59
晶圓蝕刻后的清洗方法有哪些
晶圓蝕刻后的清洗是半導(dǎo)體制造中的關(guān)鍵步驟,旨在去除蝕刻殘留物(如光刻膠、蝕刻產(chǎn)物、污染物等),同時(shí)避免對(duì)晶圓表面或結(jié)構(gòu)造成損傷。以下是常見的清洗方法及其原理:一、濕法清洗1.溶劑清洗目的:去除光刻膠、有機(jī)殘留物和部分蝕刻產(chǎn)物。常用溶劑:丙酮(Acetone):溶解正性光刻膠。醋酸乙酯(EthylAcetate):替代丙酮的環(huán)保溶劑。N-甲基吡咯烷酮(NMP)982瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-07-14 13:15
酸性溶液清洗劑的濃度是多少合適
酸性溶液清洗劑的濃度選擇需綜合考慮清洗目標(biāo)、材料特性及安全要求。下文將結(jié)合具體案例,分析濃度優(yōu)化與工藝設(shè)計(jì)的關(guān)鍵要點(diǎn)。酸性溶液清洗劑的合適濃度需根據(jù)具體應(yīng)用場景、清洗對(duì)象及污染程度綜合確定,以下是典型范圍和參考:1.一般工業(yè)清洗(金屬除銹、氧化層)硫酸(H?SO?):5%~15%適用于去除鐵銹、氧化鋁等,濃度過高易導(dǎo)致金屬過腐蝕或氫脆。鹽酸(HCl):5%~913瀏覽量