在全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)高速發(fā)展的浪潮中,芯片制造的精度與效率已成為決定行業(yè)競(jìng)爭(zhēng)力的核心要素。作為精密工業(yè)的巔峰,芯片制造在檢測(cè)環(huán)節(jié)面臨著納米級(jí)缺陷捕捉的嚴(yán)峻挑戰(zhàn):傳統(tǒng)檢測(cè)手段在速度、精度與實(shí)時(shí)性上的短板,嚴(yán)重制約了高端芯片的良率與量產(chǎn)效率。在此背景下,格物優(yōu)信顯微熱成像儀X 1280系列、X640系列以顛覆性技術(shù)突破,憑借毫秒級(jí)響應(yīng)速度,針對(duì)芯片進(jìn)行微米級(jí)缺陷檢測(cè)的硬核實(shí)力,為芯片制造行業(yè)注入全新動(dòng)能。
傳統(tǒng)光學(xué)檢測(cè)技術(shù)因受限于光學(xué)衍射極限,難以突破微米級(jí)缺陷識(shí)別屏障,而電子顯微鏡雖具備亞納米級(jí)精度,卻因檢測(cè)速度緩慢且需破壞性取樣,陷入“精度與速度不可兼得”的困境;與此同時(shí),芯片微小結(jié)構(gòu)的熱分布異常常引發(fā)熱失控失效,但傳統(tǒng)紅外熱像儀受制于空間分辨率不足,始終無(wú)法精準(zhǔn)定位微觀熱缺陷;更凸顯矛盾的是,依賴人工復(fù)檢的冗長(zhǎng)流程嚴(yán)重拖累檢測(cè)效率,加之高端檢測(cè)設(shè)備的天價(jià)投入持續(xù)擠壓企業(yè)利潤(rùn)空間,形成了“高成本、低效率、高風(fēng)險(xiǎn)”的惡性循環(huán),成為制約行業(yè)突破的技術(shù)枷鎖。
格物優(yōu)信顯微熱像儀X 1280系列、X640系列通過(guò)顯微鏡頭與高靈敏度紅外探測(cè)器,最高可達(dá)到130萬(wàn)紅外像素點(diǎn)纖毫畢現(xiàn),即使是小到3微米的物體也能實(shí)現(xiàn)高清熱成像測(cè)溫,可清晰捕捉芯片內(nèi)部導(dǎo)線、焊點(diǎn)的微觀熱分布;支持每秒最高125Hz的高速熱成像,實(shí)時(shí)追蹤芯片通電、運(yùn)行時(shí)的瞬態(tài)溫度變化,提前預(yù)警局部過(guò)熱風(fēng)險(xiǎn);配備專業(yè)測(cè)溫軟件,發(fā)射率可調(diào),可針對(duì)芯片封裝樹(shù)脂、金屬焊球、陶瓷基板等不同熱導(dǎo)材料精準(zhǔn)校準(zhǔn),確保硅基、碳化硅、氮化鎵等全品類芯片檢測(cè)一致性。
微米可測(cè)|見(jiàn)微知著,專為微小物體測(cè)溫而生
優(yōu)質(zhì)的探測(cè)器及專業(yè)算法如同一雙“火眼金睛”,幫助用戶洞察畫面中的細(xì)微差異,捕捉場(chǎng)景中的細(xì)小溫差,使得被檢測(cè)物體在“熱成像顯微鏡”的視角下纖毫畢現(xiàn)。
配備科研專用支架,實(shí)時(shí)連續(xù)在線監(jiān)測(cè)
針對(duì)被測(cè)物體的微小特性,特配備科研專用支架,針對(duì)實(shí)驗(yàn)對(duì)象就行靜距離實(shí)時(shí)觀測(cè),讓熱成像科學(xué)研究操作更順手,助力科研項(xiàng)目如光纖檢測(cè)、電子煙發(fā)熱絲、芯片材料無(wú)損檢測(cè)等領(lǐng)域的研究項(xiàng)目順利推進(jìn),我們支持個(gè)性化dingzhi和SDK二次開(kāi)發(fā),確保用戶在微觀研究中能夠得心應(yīng)手、游刃有余。
更受用戶青睞的顯微熱像儀,各大知名高校單位的選擇
格物優(yōu)信顯微熱像儀X系列已助力多家高??蒲袉挝坏臒岢上窨蒲许?xiàng)目,如北京大學(xué)材料熱效應(yīng)研究、清華大學(xué)深圳研究院電阻絲監(jiān)測(cè)、浙江大學(xué)激光晶體研究等等,熱像儀成像細(xì)膩清晰、測(cè)溫精準(zhǔn)的特點(diǎn)深受科研用戶的青睞。
高達(dá)百萬(wàn)紅外像素+顯微鏡頭,微小物體測(cè)溫盡顯極致高清
格物優(yōu)信科研用熱像儀,針對(duì)不同的客戶需求,采用不同分辨率如348*288、640*480、1280*1024等,可加裝不同焦距的顯微鏡頭,如1280*1024顯微熱像儀4.8μm鏡頭、640*512顯微熱像儀17μm鏡頭、640*512顯微熱像儀8μm鏡頭,最高可達(dá)到130萬(wàn)紅外像素點(diǎn)纖毫畢現(xiàn),即使是小到3微米的物體也能實(shí)現(xiàn)高清熱成像測(cè)溫。
配備IRStudio科研專用軟件,支持曲線分析|逐幀分析|離線分析
IRStudio系統(tǒng)是格物優(yōu)信針對(duì)紅外熱像儀及其衍生產(chǎn)品所開(kāi)發(fā)的專業(yè)紅外分析軟件。具有強(qiáng)大的錄制和分析功能,可對(duì)紅外數(shù)據(jù)進(jìn)行顯示、記錄、特征分析等,以支持關(guān)鍵決策,滿足用戶在研發(fā)、研究領(lǐng)域中的實(shí)際應(yīng)用需求。
-
半導(dǎo)體
+關(guān)注
關(guān)注
336文章
29632瀏覽量
253844 -
熱像儀
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
423瀏覽量
24744 -
芯片檢測(cè)
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
16瀏覽量
8828
原文標(biāo)題:芯片檢測(cè)效率低下?格物優(yōu)信顯微熱成像儀毫秒級(jí)定位缺陷
文章出處:【微信號(hào):gh_f13f52d75e0c,微信公眾號(hào):格物優(yōu)信紅外熱像儀】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
格物優(yōu)信顯微熱像儀在航空防冰研究中的應(yīng)用
格物優(yōu)信紅外熱成像技術(shù)在機(jī)器視覺(jué)領(lǐng)域的應(yīng)用
格物優(yōu)信顯微熱像儀在芯片焊接中的應(yīng)用
格物優(yōu)信推出PCB專用高清熱成像儀
格物優(yōu)信高速顯微熱像儀在航空科研中的應(yīng)用
格物優(yōu)信顯微熱像儀在科學(xué)研究中的應(yīng)用
格物優(yōu)信顯微熱成像儀在高校科研中的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)
功率器件熱設(shè)計(jì)基礎(chǔ)(十四)----熱成像儀測(cè)溫度概述
格物優(yōu)信推出高速中波制冷紅外熱像儀
FLIR聲學(xué)成像儀在工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng)用
浮思特 | 紅外熱成像儀可以檢查什么?用途比你想的還多!
Raythink燧石紅外熱成像儀在電力巡檢中的應(yīng)用
FLIR聲學(xué)成像儀在工業(yè)維護(hù)與故障診斷領(lǐng)域的應(yīng)用

格物優(yōu)信顯微熱成像儀在芯片檢測(cè)中的應(yīng)用
評(píng)論