電子設備中絕大部分故障最終都可溯源至元器件失效。熟悉各類元器件的失效模式，往往僅憑直覺就能鎖定故障點，或僅憑一次簡單的電阻、電壓測量即可定位問題。

電阻器類

電阻器家族包括固定電阻與可變電阻（電位器），在整機中數(shù)量龐大且持續(xù)耗能，其引發(fā)的故障約占總故障的15 %。統(tǒng)計表明，其中85 %～90 %為斷路、機械損傷、短路、絕緣擊穿等致命失效，僅約10 %源于阻值漂移。

1. 材料-結構決定失效模式 碳膜電阻：

引線斷裂、基體缺陷、膜層均勻性差、刻槽缺陷、膜-端電極接觸不良、污染。

金屬膜電阻：

膜層破裂、銀遷移、氧化還原、靜電荷、電暈放電、引線松脫。

線繞電阻：

接觸不良、電流腐蝕、焊點熔解、絕緣破損。

可變電阻：

接觸簧片疲勞、雜質污染、環(huán)氧膠劣化、軸心傾斜。

2. 變質與開路

固定電阻變質多以阻值增大為特征，誘因包括散熱不良、潮濕或制造缺陷。燒毀有兩種典型外觀： 過流型——表面焦糊，易于目測； 高壓脈沖型——表面完好，阻值卻呈開路或大幅漂移，常見于高壓電路。

3. 電位器接觸不良

據(jù)統(tǒng)計表明，電信設備電位器故障中90 %、電視機中87 %表現(xiàn)為接觸不良，原因有：

• 接觸壓力不足、簧片應力松弛、滑動觸點偏離軌道；
• 氧化膜或污染膜形成；
• 導電層/電阻合金線磨損或燒毀。
  

4. 檢修策略

固定電阻失效直接更換；線繞電阻若僅局部燒斷，可重繞修復。電位器接觸不良可先用無水乙醇清洗后復測，仍不恢復即更換。

電容器類

電容失效現(xiàn)象可歸納為擊穿、開路、參數(shù)退化、漏液及機械損傷，其機理與產(chǎn)品結構、材料、工藝、環(huán)境應力耦合相關。

1. 失效機理 擊穿：

介質疵點、老化、電化學擊穿、邊緣飛弧、金屬離子遷移、內部氣隙放電。

開路：

陽極箔腐蝕斷裂、引出線氧化、電解質干涸、機械應力瞬時斷開。

參數(shù)退化：

潮濕老化、金屬離子遷移、殘余應力、電解質揮發(fā)、接觸電阻增大。

2. 檢測方法 電解電容：

萬用表R×1 k或R×10 k擋，通過充放電曲線判斷容量、漏電。充電電流大且回零慢者容量足；指針不動則失效；回零阻值低則漏電嚴重。

1 mF以上普通電容：

多次同極性觸碰法，觀察指針擺動判斷漏電或擊穿。

1 mF以下：

優(yōu)先使用數(shù)字表電容擋；無電容擋時，可與同規(guī)格好電容并聯(lián)判斷開路。

精密參數(shù)：

LCR電橋測容量，晶體管圖示儀測耐壓。

電感與變壓器類

故障以外應力為主：負載短路導致過流、通風不良導致過熱、潮濕導致絕緣下降。金鑒實驗室在進行試驗時，嚴格遵循相關標準操作，確保每一個測試環(huán)節(jié)都精準無誤地符合標準要求。

1. 常見故障現(xiàn)象

• 通電嗡嗡響——鐵心未夾緊或過載；
• 高熱、冒煙、焦味——線圈匝間短路或過載；
• 保險絲熔斷——嚴重短路。
  

2. 檢測方法 直流電阻法：

用R×1 W測天線/振蕩線圈，R×10 W～R×100 W測中周、變壓器。阻值顯著低于經(jīng)驗值說明匝間短路；阻值為零說明完全短路。初級-次級間電阻應為無窮大，否則為漏電。

通電法：

次級電壓明顯下降提示局部短路；迅速升溫、冒煙即判定內部短路。

儀器法：

高頻Q表測電感量及Q值；兆歐表測絕緣；電感短路儀排查低頻線圈局部短路。調壓變壓器需定期清理碳刷碎片與積碳，防止二次短路。

集成電路類

• 電極開路/時斷時通——金屬遷移、電蝕、工藝缺陷；
• 電極短路——金屬擴散、金屬化缺陷、異物；
• 引線折斷——線徑不均、機械應力、電蝕；
• 參數(shù)漂移——材料缺陷、可動離子污染；
• 機械磨損/封裝裂紋——封裝工藝缺陷、環(huán)境應力；
• 可焊性下降——鍍層不良、氧化污染；
• 整機無法工作——多由外部工作條件超限引發(fā)。
• 先確認外圍電源、時鐘、復位正常，再對可疑引腳進行靜態(tài)電壓、波形、熱像掃描比對，最后輔以X-ray或微探針確認內部金屬化缺陷。

結語

元器件失效雖呈現(xiàn)多樣性，但其物理-化學機理具有高度可歸納性。掌握材料特性、工藝弱點與環(huán)境耦合規(guī)律，輔以針對性檢測手段，即可在復雜系統(tǒng)中迅速抽絲剝繭、精準定位故障源。