動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-10-24 12:22

  熱沖擊試驗：確保PCB可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)

  

  在電子設(shè)備制造領(lǐng)域，印刷線路板（PCB）的質(zhì)量與可靠性直接決定著最終產(chǎn)品的性能與壽命。而在眾多測試項目中，熱沖擊試驗以其嚴(yán)苛的條件和高效的篩選能力，成為評估PCB可靠性的重要手段之一。熱沖擊試驗的核心價值熱沖擊試驗通過讓PCB樣品在極短時間內(nèi)經(jīng)歷急劇的溫度變化，來模擬產(chǎn)品在實際使用、運輸或存儲過程中可能遭遇的極端環(huán)境。這種測試不僅考驗著PCB基材的耐受性，更

  pcb PCB 沖擊試驗 印刷線路板

  93瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-10-24 12:20

  電子元器件失效分析之金鋁鍵合

  

  電子元器件封裝中的引線鍵合工藝，是實現(xiàn)芯片與外部世界連接的關(guān)鍵技術(shù)。其中，金鋁鍵合因其應(yīng)用廣泛、工藝簡單和成本低廉等優(yōu)勢，成為集成電路產(chǎn)品中常見的鍵合形式。金鋁鍵合失效這種現(xiàn)象雖不為人所熟知，卻是電子設(shè)備可靠性的一大隱患。為什么金鋁鍵合會失效金鋁鍵合失效主要表現(xiàn)為鍵合點電阻增大和機械強度下降，最終導(dǎo)致電路性能退化或開路。其根本原因源于金和鋁兩種金屬的物理與化

  電子元器件 芯片

  105瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-10-23 16:00

  新動態(tài)：電器電子產(chǎn)品概述及有害物質(zhì)限制使用管理

  

  電子產(chǎn)品與電氣產(chǎn)品分類電器電子產(chǎn)品已成為現(xiàn)代社會不可或缺的組成部分，廣泛滲透到生產(chǎn)與生活的各個角落。從廣義上，可將其分為電子產(chǎn)品和電氣產(chǎn)品兩大類。電子產(chǎn)品主要指以電子管、集成電路等電子技術(shù)為基礎(chǔ)，通過電子運動實現(xiàn)功能的產(chǎn)品。其核心在于處理信息與信號，早期因主要元件為電子管而得名。常見的產(chǎn)品包括智能手機、電腦、電視機、收音機、錄像機、激光唱機（CD）、移動通信

  電器 電子產(chǎn)品

  356瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-10-22 14:36

  產(chǎn)品可靠性驗證手段：機械沖擊測試與振動測試的差異

  

  在產(chǎn)品研發(fā)與質(zhì)量管控中，機械沖擊測試與振動測試是兩項關(guān)鍵的可靠性驗證方法。兩者雖均涉及產(chǎn)品在力學(xué)環(huán)境下的響應(yīng)，但其物理機制與測試目的存在本質(zhì)差異。準(zhǔn)確把握二者的區(qū)別，有助于企業(yè)優(yōu)化測試方案，合理分配資源，并提升產(chǎn)品的市場競爭力。理解兩種測試的本質(zhì)機械沖擊測試用于模擬產(chǎn)品在生命周期內(nèi)可能經(jīng)歷的瞬態(tài)、高強度的沖擊事件，例如設(shè)備跌落、碰撞或驟然受力。該類測試關(guān)注的

  機械 測試

  106瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-10-22 14:33

  半導(dǎo)體器件的靜電放電（ESD）失效機理與防護設(shè)計

  

  靜電在自然界中無處不在。從芯片制造、封裝測試、運輸存儲到組裝使用，靜電可能在任一環(huán)節(jié)對芯片造成不可逆損。半導(dǎo)體ESD失效的四大特征1.隱蔽性（1）人體通常需2~3KV靜電才能感知，而現(xiàn)代半導(dǎo)體器件可能僅需不到20V即會受損。（2）在無塵室中，技術(shù)人員身著防靜電服時，仍可能攜帶足以損傷芯片的靜電。2.潛在性（1）部分受損元器件外觀完好，初始功能正常，卻已留下“

  ESD 半導(dǎo)體器件 靜電

  96瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-10-20 15:33

  什么是溫度沖擊試驗

  

  在當(dāng)今科技飛速發(fā)展的時代，各類產(chǎn)品面臨著日益復(fù)雜的使用環(huán)境。其中，溫度急劇變化對產(chǎn)品質(zhì)量和壽命構(gòu)成了嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。溫度沖擊試驗，作為一項重要的環(huán)境可靠性測試，正成為眾多行業(yè)不可或缺的檢測環(huán)節(jié)。溫度沖擊試驗概述溫度沖擊試驗，又稱為熱沖擊試驗或溫度循環(huán)試驗，廣泛應(yīng)用于科研機構(gòu)、高等院校、工業(yè)生產(chǎn)單位及軍工領(lǐng)域。這項測試主要評估各種工業(yè)產(chǎn)品在快速溫度變化環(huán)境下的適應(yīng)能

  沖擊試驗 測試 溫度測試

  132瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-10-20 15:31

  聚焦離子束（FIB）技術(shù)在電池材料研究中的應(yīng)用

  

  橫截面分析操作與目的利用聚焦離子束（FIB）技術(shù)對電池材料進行精確切割，能夠制備出適合觀察的橫截面。這一操作的核心目的在于使研究人員能夠直接觀察材料內(nèi)部不同層次的結(jié)構(gòu)特征，從而獲取材料在特定平面上的微觀信息。例如，通過橫截面分析可以清晰地觀察到不同成分的分布情況，了解各成分在材料內(nèi)部的相對位置和分布范圍；同時，還能觀察到相界面的形態(tài)，確定不同相之間的接觸關(guān)系

  fib TEM 離子束

  125瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-10-20 15:29

  MSD失效的“爆米花”效應(yīng)

  

  在電子制造領(lǐng)域，潮濕敏感器件（MSD）的失效已成為影響產(chǎn)品最終質(zhì)量與長期可靠性的關(guān)鍵挑戰(zhàn)之一。隨著電子產(chǎn)品不斷向輕薄化、高密度化方向發(fā)展，MSD在使用與存儲過程中因吸濕導(dǎo)致的界面剝離、裂紋擴展乃至功能失效等問題日益突出，成為導(dǎo)致產(chǎn)品故障的重要因素。什么是潮濕敏感器件潮濕敏感器件，簡稱MSD，特指那些對環(huán)境中水分極為敏感的電子元器件，尤其是采用塑料封裝的表面貼

  MSD 敏感器件 電子元器件

  86瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-10-17 17:38

  常見的電子元器件失效分析匯總

  

  電子元器件失效可能導(dǎo)致電路功能異常，甚至整機損毀，耗費大量調(diào)試時間。部分半導(dǎo)體器件存在外表完好但性能劣化的“軟失效”，進一步增加了問題定位的難度。電阻器失效1.開路失效：最常見故障。由過電流沖擊導(dǎo)致，具體表現(xiàn)為電阻膜燒毀或脫落、基體斷裂、引線帽與電阻體脫離。2.阻值漂移：隱蔽性失效。源于電阻膜缺陷或退化、基體中可動離子影響、保護涂層不良，導(dǎo)致阻值超出規(guī)范，電

  失效分析 電子元器件

  449瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-10-16 15:00

  高低溫循環(huán)測試對電子元件壽命有什么影響

  

  在電子產(chǎn)品無處不在的今天，微小元件的可靠性直接關(guān)系整個系統(tǒng)的成敗。小到手機，大到汽車、醫(yī)療及工業(yè)設(shè)備，任何元件的失效都可能造成設(shè)備癱瘓。要預(yù)知元件壽命，高低溫循環(huán)測試是關(guān)鍵所在。什么是高低溫循環(huán)測試？高低溫循環(huán)測試是一種環(huán)境可靠性測試方法，通過讓電子元件在設(shè)定的高溫和低溫極端值之間循環(huán)變化，模擬產(chǎn)品在運輸、存儲和使用過程中可能遇到的溫度變化環(huán)境。金鑒實驗室擁

  循環(huán)測試 電子產(chǎn)品 電子元件

  123瀏覽量