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一文了解功率半導(dǎo)體的可靠性測(cè)試

金鑒實(shí)驗(yàn)室 ? 2025-08-25 15:30 ? 次閱讀
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功率半導(dǎo)體概述

功率半導(dǎo)體是一種特殊的半導(dǎo)體器件,它們?cè)?a target="_blank">電力系統(tǒng)中扮演著至關(guān)重要的角色。這些器件能夠高效地控制和調(diào)節(jié)電力的流動(dòng),包括電壓和頻率的轉(zhuǎn)換,以及交流電(AC)和直流電(DC)之間的轉(zhuǎn)換。這種能力使得功率半導(dǎo)體在各種電力應(yīng)用中不可或缺,例如電力變換器、電機(jī)驅(qū)動(dòng)器和電力調(diào)節(jié)器等。

功率半導(dǎo)體的應(yīng)用領(lǐng)域

功率半導(dǎo)體器件在多個(gè)領(lǐng)域中發(fā)揮著核心作用,尤其是在新能源、軌道交通、電動(dòng)汽車、工業(yè)應(yīng)用和家用電器等領(lǐng)域。隨著電動(dòng)汽車的快速發(fā)展,功率半導(dǎo)體器件市場(chǎng)迎來了爆炸式的增長(zhǎng)。在這些應(yīng)用中,功率半導(dǎo)體器件不僅需要提供高效率的電力轉(zhuǎn)換,還需要保證在惡劣環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性。

功率半導(dǎo)體的可靠性測(cè)試

為了確保功率半導(dǎo)體器件在各種電力轉(zhuǎn)換應(yīng)用中的穩(wěn)定性和可靠性。

功率循環(huán)測(cè)試簡(jiǎn)介

功率循環(huán)測(cè)試是一種重要的可靠性測(cè)試,它模擬了功率半導(dǎo)體器件在實(shí)際運(yùn)行中的溫度波動(dòng)。這種測(cè)試通過讓芯片在間歇性通電的過程中產(chǎn)生熱量,從而使芯片溫度發(fā)生周期性變化。功率循環(huán)的周期通常在3到5秒之間,這種周期性的熱循環(huán)會(huì)對(duì)器件造成損傷,如綁線脫落、斷裂以及芯片焊層分離等。金鑒實(shí)驗(yàn)室在進(jìn)行功率循環(huán)測(cè)試時(shí),通過精確控制測(cè)試條件,確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。這種測(cè)試不僅能夠評(píng)估器件的耐久性,還能為后續(xù)的改進(jìn)提供重要數(shù)據(jù)支持。

功率循環(huán)測(cè)試的機(jī)理

功率循環(huán)測(cè)試的損傷機(jī)理主要涉及到銅綁線和芯片表面鋁層的熱膨脹系數(shù)不同,以及芯片熱膨脹系數(shù)與DBC(Direct Bonded Copper)板不同所導(dǎo)致的問題。這些差異在溫度變化時(shí)會(huì)導(dǎo)致內(nèi)部應(yīng)力,從而影響器件的長(zhǎng)期可靠性。

功率循環(huán)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

車規(guī)級(jí)功率模塊的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)中,AQG324是由歐洲電力電子研究中心ECPE發(fā)布的一個(gè)常見標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)對(duì)功率循環(huán)測(cè)試進(jìn)行了詳細(xì)的規(guī)定,包括對(duì)Tvj的數(shù)據(jù)測(cè)量方法、測(cè)試條件和測(cè)試流程等。在進(jìn)行測(cè)試時(shí),必須實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)被測(cè)器件的關(guān)鍵參數(shù),如正向或飽和壓降Vce、結(jié)溫差ΔTvj和熱阻,這些參數(shù)是判定器件失效的關(guān)鍵。

功率循環(huán)測(cè)試的加載方法

業(yè)界的功率循環(huán)測(cè)試加載方法并不統(tǒng)一,不同的加載策略會(huì)對(duì)功率循環(huán)壽命產(chǎn)生影響。例如,有恒定的導(dǎo)通及關(guān)斷時(shí)間、恒定的殼溫Tc波動(dòng)、恒定的功率Pv和恒定的結(jié)溫Tj波動(dòng)等方法。這些方法通過調(diào)整導(dǎo)通時(shí)間、電流或功率來控制器件的溫度波動(dòng),以模擬實(shí)際應(yīng)用中的工作條件。金鑒實(shí)驗(yàn)室在進(jìn)行試驗(yàn)時(shí),嚴(yán)格遵循相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)操作,確保每一個(gè)測(cè)試環(huán)節(jié)都精準(zhǔn)無誤地符合標(biāo)準(zhǔn)要求。

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  • 功率半導(dǎo)體
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  • 可靠性測(cè)試
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