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普迪飛 Exensio?數(shù)據(jù)分析平臺(tái) | Test Operations解鎖半導(dǎo)體測(cè)試新紀(jì)元

PDF Solutions ? 2025-08-19 13:53 ? 次閱讀
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Test Operations是Exensio數(shù)據(jù)分析平臺(tái)的四個(gè)主要模塊之一。T-Ops模塊旨在幫助集成器件制造商(IDM)、無(wú)晶圓廠半導(dǎo)體公司(Fabless)和外包半導(dǎo)體(產(chǎn)品)封測(cè)廠(OSAT)提供全面的數(shù)據(jù)分析,幫助企業(yè)保障產(chǎn)品質(zhì)量,提高生產(chǎn)效率。

三位一體:測(cè)試數(shù)據(jù)鏈接、控制 與分析

Exensio Test Operations旨在捕獲測(cè)試數(shù)據(jù)、實(shí)施測(cè)試過(guò)程控制和測(cè)試質(zhì)量規(guī)則、存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)以進(jìn)行分析和后處理、支持邊緣計(jì)算、自動(dòng)化數(shù)據(jù)傳輸,并提供廣泛的數(shù)據(jù)分析功能。這一功能確保了數(shù)據(jù)的完整性和即時(shí)性,讓企業(yè)能夠第一時(shí)間掌握測(cè)試情況,進(jìn)而提高產(chǎn)品良率、提高出廠質(zhì)量、實(shí)施數(shù)據(jù)前饋、在邊緣有效部署ML、更好利用測(cè)試時(shí)間和關(guān)鍵設(shè)備,并對(duì)跨地域制造供應(yīng)鏈近乎實(shí)時(shí)收集的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行交互分析。

Test Operations產(chǎn)品功能

全球化部署方案,4K+測(cè)試設(shè)備數(shù)據(jù)自動(dòng)化采集

在全球OSATs和IDMs覆蓋4000+ 臺(tái)新式/舊式的測(cè)試設(shè)備,可直接實(shí)時(shí)且自動(dòng)收集測(cè)試過(guò)程中產(chǎn)生的所有數(shù)據(jù),如測(cè)試插入、復(fù)測(cè)操作以及測(cè)試設(shè)備操作活動(dòng)的數(shù)據(jù),最后通過(guò)數(shù)據(jù)交換網(wǎng)絡(luò)(DEX)隨時(shí)用于交互式分析或基于規(guī)則的分析,從而為客戶提供豐富的時(shí)序數(shù)據(jù)。

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TO模塊系統(tǒng)架構(gòu)

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部分合作伙伴


定制化靈活配置:規(guī)范流程管控,管理質(zhì)量規(guī)則

支持客戶針對(duì)特定產(chǎn)品、測(cè)試操作和測(cè)試程序靈活配置規(guī)則。

流程管控規(guī)則:可從良率、bin、site-to-site、統(tǒng)計(jì)值表現(xiàn)、參數(shù)測(cè)量統(tǒng)計(jì)值和 WECO SPC limits 等各方面,持續(xù)實(shí)時(shí)地監(jiān)控量產(chǎn)的健康狀況。

質(zhì)量規(guī)則管理:幫助客戶捕獲由于不完整測(cè)試、不合邏輯的 bin 分配、測(cè)量異常、無(wú)效 ECID、連續(xù)失效 bin、 stuck unit 情況而導(dǎo)致的測(cè)試逃逸。

支持在線/離線,提升質(zhì)量與可靠性

T-Ops模塊通過(guò)對(duì)于Wafer Sort 和FT的Outlier Detection來(lái)實(shí)現(xiàn)更高的產(chǎn)品質(zhì)量, 支持多種包括典型的統(tǒng)計(jì)算法、空間算法(如,DPAT、ZPAT、GDBN、NNR ...),以及更先進(jìn)的基于機(jī)器學(xué)習(xí)的單變量和多變量算法。

T-Ops模塊支持在線和離線兩種方式,可直接在測(cè)試機(jī)臺(tái)上實(shí)時(shí)執(zhí)行 (Online),也可以在服務(wù)器端在多筆數(shù)據(jù)集合上執(zhí)行 (Offline),以便對(duì)企業(yè)對(duì)產(chǎn)品良率進(jìn)行最大程度的管控和監(jiān)控

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優(yōu)化測(cè)試效率,降低測(cè)試成本

客戶可結(jié)合分析、自適應(yīng)測(cè)試以及先進(jìn)的探針控制來(lái)提升測(cè)試效率。Exensio數(shù)據(jù)分析平臺(tái)能讓客戶了解失效模式、優(yōu)化復(fù)測(cè)計(jì)劃、提高設(shè)備利用率(OEE),同時(shí)定義自適應(yīng)測(cè)試計(jì)劃,依據(jù)實(shí)際測(cè)試結(jié)果和/或預(yù)測(cè)的芯片質(zhì)量動(dòng)態(tài)調(diào)整測(cè)試流程,實(shí)現(xiàn)更合理的測(cè)試。

此外,測(cè)試操作(T-Ops)模塊通過(guò)深入洞察測(cè)試設(shè)備及測(cè)試程序的效率,助力提高測(cè)試產(chǎn)量。其全年無(wú)休(7 * 24 *365)地監(jiān)控內(nèi)部或外部測(cè)試操作,可確保實(shí)現(xiàn)合格芯片的最大產(chǎn)量。

與MA模塊并駕齊驅(qū),支持各種規(guī)模企業(yè)需求

T-Ops模塊與M-A模塊均是Exensio數(shù)據(jù)分析平臺(tái)重要模塊,擁有強(qiáng)大的后端數(shù)據(jù)存儲(chǔ)庫(kù)和用戶界面,基于標(biāo)準(zhǔn)化的測(cè)試和運(yùn)營(yíng)分析,客戶自定義操作靈活。

T-Ops模塊(作為Exensio fabless或Exensio IDM方案的一部分)具有高度的可擴(kuò)展性,無(wú)論是小型初創(chuàng)企業(yè)還是《財(cái)富》500 強(qiáng)企業(yè)都能適用。同時(shí),普迪飛擁有一支經(jīng)驗(yàn)極為豐富的全球集成團(tuán)隊(duì),能夠在極短時(shí)間內(nèi)將T-Ops模塊快速部署并集成到您的測(cè)試環(huán)境(IDM或OSAT)中。

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聚焦客戶視角:成本、質(zhì)量與交付

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T-Ops模塊功能價(jià)值亮點(diǎn)

半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域-新質(zhì)生產(chǎn)分析工具

Exensio Test Operations在半導(dǎo)體制造行業(yè)發(fā)揮著重要作用,助力企業(yè)提升產(chǎn)品良率、優(yōu)化測(cè)試流程并保障產(chǎn)品質(zhì)量。于電子設(shè)備制造行業(yè),可協(xié)助企業(yè)進(jìn)行供應(yīng)鏈質(zhì)量管控以及產(chǎn)品性能優(yōu)化。在汽車電子行業(yè),一方面保障汽車芯片的可靠性,另一方面進(jìn)行智能汽車系統(tǒng)集成測(cè)試。通過(guò)在不同行業(yè)的應(yīng)用,Exensio Test Operations 顯著提升了各行業(yè)的產(chǎn)品質(zhì)量與性能。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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