長鑫存儲“存儲器的檢測方法及存儲器”專利公布
據(jù)天眼查顯示，長鑫存儲技術(shù)有限公司9月5日發(fā)布“存儲器的檢測方法及存儲器”專利，申請發(fā)布號為cn116705103a。
根據(jù)專利要點(diǎn)，提供本申請的一種存儲器是檢測方法及存儲半導(dǎo)體相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域中存儲單位與上線之間漏電測定的復(fù)雜技術(shù)問題，該存儲器的檢測方法如下：選通字線，通過位線在所有存儲單元中寫設(shè)定存儲。為了使比特線的電位與存儲單位的電位不同，將磁條封閉，給比特線加第一電壓。保持預(yù)先設(shè)定的時間后，選擇通話線，通過比特線讀取所有存儲單位中的實(shí)際存儲數(shù)據(jù)。將各儲存裝置的實(shí)際儲存數(shù)據(jù)和事先設(shè)定的儲存數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，判斷該儲存裝置是否有漏電。所有存儲單位通過使用預(yù)先設(shè)定的存儲數(shù)據(jù)，讀取實(shí)際存儲數(shù)據(jù)，比特線的電位單獨(dú)加載，不需要按順序選擇通文線，存儲單位與比特線之間的漏電檢測方法簡單。
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