1、測(cè)試名稱(chēng)

基于ATECLOUD的電源模塊測(cè)試方案

2、測(cè)試目的

提升電源模塊測(cè)試效率，減少測(cè)試人員成本，降低測(cè)試專(zhuān)業(yè)知識(shí)要求，增加數(shù)據(jù)精準(zhǔn)度，為企業(yè)提供專(zhuān)業(yè)決策的數(shù)據(jù)支持，從而降本增效。

3、測(cè)試設(shè)備

示波器、電子負(fù)載、電源、數(shù)字萬(wàn)用表、納米BOX、ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)（各品牌示波器、電子負(fù)載、數(shù)字萬(wàn)用表均可兼容）

本次演示使用（普源示波器DHO4404、普源電子負(fù)載DL3031A、普源電源DP832、普源數(shù)字萬(wàn)用表DM3068、納米BOX、ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)）

4、測(cè)試內(nèi)容

本次測(cè)試將示波器、電子負(fù)載、電源、萬(wàn)用表通過(guò)納米BOX連接到服務(wù)器上，在通過(guò)ATECLOUD的指令控制儀器對(duì)電源模塊進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量，本次測(cè)試的項(xiàng)目包括空載測(cè)紋波、空載測(cè)輸入電流+輸出電壓、啟動(dòng)電壓（步進(jìn)/遍歷）、電壓調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率，用戶(hù)只需要在ATECLOUD平臺(tái)搭建對(duì)應(yīng)的測(cè)試方案即可完成對(duì)儀器的程控和電源模塊的數(shù)據(jù)收集，同時(shí)支持?jǐn)?shù)據(jù)報(bào)表的一鍵導(dǎo)出和自動(dòng)儲(chǔ)存。

5、測(cè)試流程

5.1、通過(guò)LAN 通訊總線(xiàn)、測(cè)試夾具以及其它線(xiàn)纜對(duì)測(cè)試所需的設(shè)備和需要測(cè)試的電源模塊進(jìn)行連接同時(shí)接入納米box進(jìn)入納米服務(wù)器。

5.2、將包含ATECLOUD平臺(tái)的電腦接入納米服務(wù)器，登錄ATECLOUD平臺(tái)并在ATECLOUD智能測(cè)試云平臺(tái)中根據(jù)所以的設(shè)備儀器搭建所需的測(cè)試方案。

5.3、運(yùn)行ATECLOUD平臺(tái)中搭建好的測(cè)試方案，可以在運(yùn)行測(cè)試界面看到對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)。

5.4、在測(cè)試完成后，在數(shù)據(jù)報(bào)告界面選擇需要的報(bào)告模板，通過(guò)記錄報(bào)告界面可以看到所有的數(shù)據(jù)報(bào)告。

5.5、選擇自己需要的數(shù)據(jù)報(bào)告選擇導(dǎo)出報(bào)告，即可得到測(cè)試的具體數(shù)據(jù)報(bào)告文檔。

6、測(cè)試過(guò)程界面

6.1、ATECLOUD智能測(cè)試平臺(tái)方案搭建界面。

6.2、方案中使用的儀器與具體型號(hào)，可選擇進(jìn)入測(cè)試。

6.3、運(yùn)行測(cè)試中的測(cè)試運(yùn)行界面，測(cè)試數(shù)據(jù)生成。

6.4、數(shù)據(jù)報(bào)告導(dǎo)出后界面，可以自行設(shè)計(jì)或選擇文本格式與模板。

7、ATECLOUD-Power電源模塊測(cè)試與Chroma8000區(qū)別

以上的測(cè)試過(guò)程只需1.5~2分鐘即可完成電源模塊空載測(cè)紋波、空載測(cè)輸入電流+輸出電壓、啟動(dòng)電壓（步進(jìn)/遍歷）、電壓調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率的測(cè)試，而采集數(shù)據(jù)與報(bào)告導(dǎo)出只需15秒即可完成，相比人工手動(dòng)測(cè)試和記錄報(bào)告效率提升50-100倍，同時(shí)只需一個(gè)懂儀器操作的人員即可完成測(cè)試，極大節(jié)省了人力成本。

審核編輯黃宇