功率器件Power Cycling測試與數(shù)據(jù)后處理分析
日前，貝思科爾舉辦了《功率器件Power Cycling測試與數(shù)據(jù)后處理分析》線上直播活動。
本次直播主要針對各種先進封裝工藝的功率器件和模塊的快速發(fā)展，分析該領(lǐng)域功率器件模塊的Rth熱測試和PC可靠性測試需求和發(fā)展趨勢，分享Siemens MicRed Power Tester功率循環(huán)測試解決方案以及一些案例，并利用專業(yè)的數(shù)據(jù)后處理軟件對這些案例分析和總結(jié)。
主要內(nèi)容：
1，分析功率器件（單管,平面式IGBT模塊,SiC Mosfet模塊）測試需求；
2，Rth熱測試介紹與數(shù)據(jù)后處理分析；
3，PCs/min測試介紹與數(shù)據(jù)后處理分析。
部分講義截圖
貝思科爾（BasiCAE），專注于為國內(nèi)高科技電子、半導(dǎo)體、通信等行業(yè)提供先進的電子設(shè)計自動化（EDA）、工程仿真分析（CAE）、半導(dǎo)體器件熱阻（Rth）及功率循環(huán)（Power Cycling）熱可靠性測試，以及研發(fā)數(shù)據(jù)信息化管理的解決方案和產(chǎn)品服務(wù)。
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原文標(biāo)題：【活動回顧】功率器件Power Cycling測試與數(shù)據(jù)后處理分析
文章出處：【微信號：BasiCAE，微信公眾號：貝思科爾】歡迎添加關(guān)注！文章轉(zhuǎn)載請注明出處。
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