電源模塊作為現(xiàn)代科技賴(lài)以生存的電力來(lái)源，已經(jīng)成為最為關(guān)鍵的元件之一，電源的可靠性在很大程度上會(huì)影響到設(shè)備的可靠性，所以對(duì)電源進(jìn)行可靠性測(cè)試成了一切參數(shù)、性能保證的前提。在電源模塊出廠之前，需要進(jìn)行嚴(yán)格的測(cè)試，老化測(cè)試就是其中之一。高溫試驗(yàn)箱老化測(cè)試的模塊電源可以保證產(chǎn)品質(zhì)量，使用戶(hù)在使用過(guò)程中降低故障概率，延長(zhǎng)使用壽命。在生產(chǎn)模塊電源的過(guò)程中，有些問(wèn)題是肉眼

溫濕度試驗(yàn)箱是環(huán)境試驗(yàn)箱的一種，采用干濕球法濕度傳感器。干濕球法是一種價(jià)格低廉、取材方便、技術(shù)成熟的測(cè)濕方法，而且特別適用于高相對(duì)濕度的檢測(cè)，其應(yīng)用極其廣泛。干濕球濕度傳感器是由兩只性能相同的鉑電阻（PT100）組合而成的傳感器，其中暴露于空氣中的鉑電阻稱(chēng)為干球，用于測(cè)量空氣的環(huán)境溫度，即干球溫度。另一只鉑電阻的感溫部位必須用蒸餾水浸濕的氣象紗布裹住端部，紗

溫度循環(huán)試驗(yàn)箱廣泛用于航空、航天、電子、儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、汽車(chē)零部件、塑膠橡膠制品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、光伏等行業(yè)，在高低溫濕熱環(huán)境條件下對(duì)測(cè)試件加速濕熱試驗(yàn)、交變濕熱試驗(yàn)、恒定濕熱試驗(yàn)、高溫高濕試驗(yàn)、高低溫試驗(yàn)，以便對(duì)測(cè)試件在高低溫濕熱環(huán)境條件下的性能作出分析及評(píng)價(jià)。溫度循環(huán)試驗(yàn)箱又名高低溫試驗(yàn)箱，試驗(yàn)各種材料耐熱（高溫試驗(yàn)）、耐寒（低溫試驗(yàn)）性能。

溫/濕度/振動(dòng)三綜合試驗(yàn)箱(水冷型);溫濕度震動(dòng)三綜合試驗(yàn)設(shè)備設(shè)備簡(jiǎn)介型號(hào)：THV-1500（WSZ605）1500L溫/濕度/振動(dòng)三綜合試驗(yàn)箱(水冷型)適用于各類(lèi)電工電子產(chǎn)品及其他產(chǎn)品、零部件和材料進(jìn)行高低溫恒定和漸變、突變、濕熱試驗(yàn)等環(huán)境模擬可靠性試驗(yàn)。性能參數(shù)內(nèi)箱尺寸：W(寬)700mm*H(高)870mm*D(深)800mm;外箱尺寸：按圖紙，外部尺

冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。冷熱沖擊試驗(yàn)箱相關(guān)保養(yǎng)：1、沖擊試驗(yàn)箱應(yīng)固定每3個(gè)月清洗一次冷凝器：對(duì)于冷凍系統(tǒng)采用風(fēng)冷冷卻的,應(yīng)定期檢修冷凝風(fēng)機(jī),并對(duì)冷凝器進(jìn)行去污除塵,以保證其良好的通風(fēng)換

高低溫濕熱試驗(yàn)箱主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶(hù)自定要求，在低溫、高溫、高溫高濕條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。結(jié)構(gòu)特征:該設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。高低溫濕熱試驗(yàn)箱箱體的外殼為采用

冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于塑料、橡膠、金屬、電子等材料試驗(yàn)的設(shè)備，用作檢測(cè)材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料性能，瞬間經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)樣品受熱脹冷縮引起的化學(xué)變化或物理傷害。可根據(jù)客戶(hù)沖擊要求設(shè)定范圍值（溫度范圍-65至+200℃），因此一直以來(lái)，冷熱沖擊試驗(yàn)箱都是環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備行業(yè)的重中之重。在GBJ150實(shí)施指南中提出，為了消除這一影響避免

高低溫試驗(yàn)箱的滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試

高溫對(duì)產(chǎn)品的影響溫度升高,材料分子運(yùn)動(dòng)速度加劇,分子動(dòng)能的增加將導(dǎo)致物體的膨脹、相態(tài)轉(zhuǎn)換和物理化學(xué)特性的變化,從而引發(fā)：1)絕熱物質(zhì)失效—材料熱老化(導(dǎo)熱率增大)；2)變形、卡死、爆裂(結(jié)構(gòu)損壞)—高溫下氣態(tài)、液態(tài)、固態(tài)物體的膨脹或尺寸的增加；3)電氣性能變化、電接觸不良、介質(zhì)擊穿—電阻率、電導(dǎo)率增大,表面高溫氧化,材料間相互擴(kuò)散加劇4)潤(rùn)滑性能下降(磨損)

溫度沖擊試驗(yàn)箱主要用于測(cè)試物品的溫度變化快速升降的能力，其試驗(yàn)流程一般如下：1.準(zhǔn)備工作：將待測(cè)試物品放置于溫度沖擊試驗(yàn)箱內(nèi)，并將試驗(yàn)箱設(shè)置為所需的溫度范圍和溫度變化速率。2.預(yù)熱階段：將試驗(yàn)箱預(yù)熱到設(shè)定溫度，并保持一段時(shí)間以達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)。3.沖擊測(cè)試：在設(shè)定的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行溫度沖擊測(cè)試。通常情況下，溫度沖擊測(cè)試包括兩個(gè)階段：高溫區(qū)域和低溫區(qū)域。在高溫區(qū)域測(cè)

由于智能型手機(jī)消費(fèi)者需求的增加，無(wú)線(xiàn)通訊市場(chǎng)目前是半導(dǎo)體應(yīng)用中，成長(zhǎng)擴(kuò)大速度最快的一個(gè)領(lǐng)域。隨著智能型手機(jī)需求的增加，半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)散發(fā)著無(wú)限潛力。半導(dǎo)體的熱敏，光敏等特性也決定了半導(dǎo)體器件在不同溫度條件下所能展現(xiàn)的不同性能，本文主要簡(jiǎn)單介紹一下高低溫試驗(yàn)箱在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中基礎(chǔ)應(yīng)用。高低溫試驗(yàn)箱在半導(dǎo)體行業(yè)中主要用于檢測(cè)半導(dǎo)體器件的可靠性、穩(wěn)定性和耐受性等關(guān)鍵指標(biāo)。半導(dǎo)體器件在使用過(guò)程中需要經(jīng)受極端的高