--- 產(chǎn)品詳情 ---
| SetPoint type | Resistor Programmable |
| SetPoint value (deg C) | -40 to 160 |
| Operating temperature range (C) | -50 to 125, -50 to 150, -50 to 160 |
| Accuracy over temp range (Max) (C) | 1.3 |
| Sensor gain (mV/Deg C) | -5.2 to 12.9 |
| Output type | Open Drain, Push Pull |
| Supply voltage (Min) (V) | 2.4 |
| Supply voltage (Max) (V) | 5.5 |
| Supply current (Typ) (uA) | 24 |
| Comparator channels (#) | 1 |
| Features | Built-in hysteresis |
| Rating | Automotive |
| Interface type | Analog output, Switch |
- 符合汽車級應用要求。關(guān)于商用器件,請參見 數(shù)據(jù)表
- 具有符合 AEC-Q100 的下列結(jié)果:
- 溫度 0 級擴展:?50°C 至 +160°C 的工作溫度范圍,甚至可高達 170°C
- 溫度 0 級:-50°C 至 +150°C 的工作溫度范圍
- 溫度 1 級:-50°C 至 +125°C 的工作溫度范圍
- 人體模型 (HBM) 靜電放電 (ESD) 組件分類等級 2
- 充電器件模型 (CDM) ESD 組件分類等級 C5
- 可通過外部電阻在 ?40°C 至 +150°C 溫度范圍內(nèi)設置跳變溫度,
精度為 ±2.3°C - 電阻容差不會引入誤差
- 推挽和開漏開關(guān)輸出
- 寬工作溫度范圍:?50°C 至 160°C
- 超線性模擬 VTEMP 溫度傳感器輸出,?50°C 至 +150°C 溫度范圍內(nèi)的精度為
±1.3°C - 具有短路保護的模擬和數(shù)字輸出
- 數(shù)字輸出具有鎖存功能
- TRIP-TEST 引腳支持系統(tǒng)內(nèi)測試
- 低功耗特性最大程度減少自發(fā)熱,使其低于 0.02°C
應用范圍
- 汽車用
- 井下設備和航空電子設備
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LM57-Q1 器件是一款具有模擬溫度傳感器輸出的精密雙路輸出溫度開關(guān),適用于寬溫度范圍的應用(例如汽車級)。 跳變溫度 (TTRIP) 可從 –40°C 至 160°CVTEMP 是 AB 類模擬電壓輸出,該電壓輸出與溫度成正比,負溫度系數(shù) (NTC) 可編程。 兩個外部 1% 電阻設置 TTRIP 和 VTEMP 斜率。 數(shù)字和模擬輸出具有保護功能,并且可監(jiān)視系統(tǒng)過熱事件。
內(nèi)置的熱滯后功能 (THYST) 可防止數(shù)字輸出發(fā)生振蕩。 TOVER 和 TOVER 數(shù)字輸出將在芯片溫度超過 TTRIP 時置為有效,在芯片溫度低于 TTRIP 與 THYST 的差值時置為無效。
TOVER 為高電平有效,并且采用推挽結(jié)構(gòu)。 TOVER 為低電平有效,并且采用開漏結(jié)構(gòu)。 將 TOVER 與 TRIP-TEST 相連,可在輸出發(fā)生跳變后將其鎖存。 將 TRIP-TEST 強制為低電平可將輸出清零。 將 TRIP-TEST 驅(qū)動為高電平會將數(shù)字輸出置為有效。 處理器可檢查 TOVER 或 TOVER 的狀態(tài),從而確認它們是否已切換至激活狀態(tài)。 這樣一來,便可以在系統(tǒng)裝配后現(xiàn)場驗證比較器和輸出電路的功能。 當 TRIP-TEST 為高電平時,VTEMP 引腳為跳變基準電壓。 系統(tǒng)隨后可使用該電壓計算 LM57-Q1 的閾值。
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