動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-10-23 18:05

  基于傳輸線模型（TLM）的特定接觸電阻率測量標(biāo)準(zhǔn)化

  

  金屬-半導(dǎo)體歐姆接觸的性能由特定接觸電阻率（ρ?）表征，其準(zhǔn)確測量對器件性能評估至關(guān)重要。傳輸線模型（TLM）方法，廣泛應(yīng)用于從納米級集成電路到毫米級光伏器件的特定接觸電阻率測量，研究發(fā)現(xiàn)，不同尺寸的TLM結(jié)構(gòu)測得值存在顯著差異，表明測試結(jié)構(gòu)的幾何尺寸對提取結(jié)果有影響。Xfilm埃利的TLM接觸電阻測試儀，憑借高精度與智能化特性，為特定接觸電阻率（ρ?）和薄

  TLM 測量 電阻率

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• 發(fā)布了文章 2025-10-16 18:03

  基于微四探針(M4PP) 測量的石墨烯電導(dǎo)性能評估

  

  石墨烯作為原子級薄二維材料，具備優(yōu)異電學(xué)與機(jī)械性能，在防腐、OLED、傳感器等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。隨著大面積石墨烯生長與轉(zhuǎn)移技術(shù)的成熟，如何實(shí)現(xiàn)其電學(xué)性能的快速、無損、高分辨率表征成為推動(dòng)其產(chǎn)業(yè)化應(yīng)用的關(guān)鍵。Xfilm埃利四探針方阻儀作為高精度電學(xué)測量設(shè)備，在該領(lǐng)域展現(xiàn)出重要的技術(shù)價(jià)值。微四探針（M4PP）憑借高精度、高空間分辨率及支持霍爾效應(yīng)測量的優(yōu)勢，成為石墨

  晶圓 測量 石墨烯

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• 發(fā)布了文章 2025-10-09 18:05

  基于四探針法 | 測定鈦基復(fù)合材料的電導(dǎo)率

  

  鈦基金屬復(fù)合材料因其優(yōu)異的力學(xué)性能、輕質(zhì)高強(qiáng)、耐高溫和耐磨性，在航空航天領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景。與純金屬不同，Ti基復(fù)合材料的電導(dǎo)率受微觀結(jié)構(gòu)、制備工藝及幾何形態(tài)影響顯著。Xfilm埃利四探針通過分離電流與電壓測量路徑，可有效消除接觸電阻，結(jié)合幾何修正與環(huán)境控制，成為Ti基復(fù)合材料電導(dǎo)率測定的理想技術(shù)。下文將系統(tǒng)闡述基于四探針法的鈦基復(fù)合材料電導(dǎo)率測定方法與

  復(fù)合材料 測量 電導(dǎo)率

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• 發(fā)布了文章 2025-09-29 13:47

  接觸電阻與TLM技術(shù)深度解密：從理論到實(shí)操，快速掌握精準(zhǔn)測量核心

  

  Xfilm埃利測量專注于電阻/方阻及薄膜電阻檢測領(lǐng)域的創(chuàng)新研發(fā)與技術(shù)突破，致力于為全球集成電路和光伏產(chǎn)業(yè)提供高精度、高效率的量檢測解決方案。公司以核心技術(shù)為驅(qū)動(dòng)，深耕半導(dǎo)體量測裝備及光伏電池電阻檢測系統(tǒng)的研發(fā)。在半導(dǎo)體以及光伏器件制造中，接觸電阻的精確測量是優(yōu)化器件性能的關(guān)鍵。本文結(jié)合專業(yè)文獻(xiàn)深入解析接觸電阻的測量原理及TLM技術(shù)，并通過實(shí)例演示如何計(jì)算關(guān)鍵

  TLM 接觸電阻 測量

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• 發(fā)布了文章 2025-09-29 13:47

  激光增強(qiáng)接觸優(yōu)化（JSIM）對TOPCon電池接觸電阻與濕熱穩(wěn)定性的雙重改善

  

  Xfilm埃利測量通過高精度電阻檢測技術(shù)助力TOPCon電池工藝革新。針對傳統(tǒng)Ag/Al漿料在DH85濕熱環(huán)境下鋁腐蝕引發(fā)的接觸電阻暴增（ΔRs=13,000%）與PCE衰減92%問題，借助Xfilm的高靈敏度電阻檢測系統(tǒng)賦能激光輔助燒結(jié)技術(shù)（JSIM）采用無鋁漿料體系，結(jié)合低溫?zé)Y(jié)工藝使DH85測試中PCE衰減率降至3.6%，F(xiàn)F損失減少86%。SEM-E

  接觸電阻 激光 電池

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• 發(fā)布了文章 2025-09-29 13:47

  汽車電連接器的接觸電阻特性及優(yōu)化研究

  

  Xfilm埃利測量作為電阻/方阻及薄膜電阻檢測領(lǐng)域的創(chuàng)新引領(lǐng)者，始終以核心技術(shù)創(chuàng)新驅(qū)動(dòng)發(fā)展，專注于為集成電路、光伏及新能源產(chǎn)業(yè)提供高精度量測與檢測解決方案。針對新能源汽車產(chǎn)業(yè)對大功率充電連接器性能要求的持續(xù)升級，聚焦電連接器接觸電阻優(yōu)化，通過Xfilm埃利測量的TLM接觸電阻測試系統(tǒng)結(jié)合實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證為高可靠性連接器設(shè)計(jì)提供了量化理論模型支撐。物理機(jī)制與經(jīng)典模型/

  接觸電阻 汽車 電連接器

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• 發(fā)布了文章 2025-09-29 13:47

  石墨烯量子霍爾效應(yīng)：載流子類型依賴性及其計(jì)量學(xué)應(yīng)用

  

  石墨烯因其零帶隙能帶結(jié)構(gòu)和高載流子遷移率，在量子霍爾效應(yīng)研究中具有獨(dú)特優(yōu)勢。然而，基于碳化硅襯底的石墨烯（SiC/G）器件中，n型與p型載流子的輸運(yùn)性能差異顯著。Xfilm埃利測量作為電阻檢測領(lǐng)域的創(chuàng)新引領(lǐng)者，依托ECOPIA霍爾效應(yīng)測試儀HMS-3000的高精度量測能力，系統(tǒng)研究了SiC/G器件中n型與p型載流子的輸運(yùn)性能差異，并評估了其在量子計(jì)量中的應(yīng)用

  測量 石墨烯 霍爾效應(yīng)

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• 發(fā)布了文章 2025-09-29 13:47

  四探針測試法在銅/FR4復(fù)合材料電性能研究中的應(yīng)用

  

  在現(xiàn)代電子設(shè)備中，印刷電路板（PCB）作為核心部件，其電性能的穩(wěn)定性至關(guān)重要。Xfilm埃利專注于電阻和薄層電阻檢測領(lǐng)域的創(chuàng)新研發(fā)，致力于為集成電路和光伏產(chǎn)業(yè)提供高精度的量檢測解決方案。本文通過Xfilm埃利的四探針方阻儀，系統(tǒng)分析了銅/FR4復(fù)合材料在不同振動(dòng)周期和溫度下的電阻率和電導(dǎo)率變化。實(shí)驗(yàn)方法與理論模型/Xfilm實(shí)驗(yàn)方法：實(shí)驗(yàn)樣品：單層銅薄膜（厚

  復(fù)合材料 測試

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• 發(fā)布了文章 2025-09-29 13:46

  高精度TLM測量技術(shù)：在金屬-石墨烯接觸電阻表征中的應(yīng)用研究

  

  石墨烯作為最具代表性的二維材料，憑借其卓越的電學(xué)性能在高性能電子器件領(lǐng)域展現(xiàn)出巨大應(yīng)用潛力。然而，金屬-石墨烯接觸電阻問題一直是制約其實(shí)際應(yīng)用的瓶頸。接觸電阻可占石墨烯場效應(yīng)晶體管(GFET)總電阻的50%以上，顯著影響器件性能。Xfilm埃利測量專注于電阻/方阻及薄膜電阻檢測領(lǐng)域創(chuàng)新研發(fā)與技術(shù)突破。本文基于Xfilm埃利TLM接觸電阻測試儀，系統(tǒng)評估了TL

  TLM 測量 石墨烯

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• 發(fā)布了文章 2025-09-29 13:46

  金屬-半導(dǎo)體接觸電阻測量的TLM標(biāo)準(zhǔn)化研究：模型優(yōu)化與精度提升

  

  Xfilm埃利測量專注于電阻/方阻及薄膜電阻檢測領(lǐng)域的創(chuàng)新研發(fā)與技術(shù)突破，致力于為全球集成電路和光伏產(chǎn)業(yè)提供高精度、高效率的量檢測解決方案。公司以核心技術(shù)為驅(qū)動(dòng)，深耕半導(dǎo)體量測裝備及光伏電池電阻檢測系統(tǒng)的研發(fā)。在半導(dǎo)體器件制造過程中，金屬-半導(dǎo)體歐姆接觸的質(zhì)量直接影響器件性能。傳輸線模型（TLM）作為最常用的測量方法，其測量結(jié)果卻在不同尺寸設(shè)備間存在顯著差異

  TLM 半導(dǎo)體 電阻測量

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