動態(tài)
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半導體行業(yè)老化測試箱chamber模擬環(huán)境進行可靠性測試
老化測試箱chamber是半導體行業(yè)用于加速評估器件可靠性和壽命的關鍵設備,通過模擬嚴苛環(huán)境條件(如高溫、高濕、高壓、紫外輻射等),預測產品在實際使用中的性能變化。一、老化測試箱chamber定義與核心功能其核心功能包括:高溫老化測試:溫度范圍通常為室溫至150°C(高壓型號可達147°C),模擬長期高溫工作環(huán)境。高濕環(huán)境模擬:濕度控制,部分設備支持飽和蒸汽645瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-07-16 13:49
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