動態(tài)
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發(fā)布了文章 2024-03-08 08:22
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發(fā)布了文章 2024-03-07 08:22
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發(fā)布了文章 2024-03-05 08:23
淺談因電遷移引發(fā)的半導體失效
“前言半導體產(chǎn)品老化是一個自然現(xiàn)象,在電子應用中,基于環(huán)境、自然等因素,半導體在經(jīng)過一段時間連續(xù)工作之后,其功能會逐漸喪失,這被稱為功能失效。半導體功能失效主要包括:腐蝕、載流子注入、電遷移等。其中,電遷移引發(fā)的失效機理最為突出。技術型授權代理商Excelpoint世健的工程師WolfeYu在此對這一現(xiàn)象進行了分析。?++背景從20世紀初期第一個電子管誕生以1.7k瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2024-03-05 08:23
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發(fā)布了文章 2024-03-05 08:22
選擇PHY時,這幾個重要標準應該要考慮
隨著數(shù)字化更深地融入我們生活的方方面面,不同設備和機器之間持續(xù)交換的數(shù)據(jù)量也在不斷增加。特別是在工業(yè)領域,傳統(tǒng)的通信技術開始達到極限,而以太網(wǎng)(本例中為工業(yè)以太網(wǎng))開始成為新的標準。借助以太網(wǎng),可以在長達100米的距離內(nèi)實現(xiàn)千兆級的較高數(shù)據(jù)速率,如果使用光纖電纜,甚至能達到幾千米。以太網(wǎng)是IEEE802.3中規(guī)定的一種接口規(guī)范。以太網(wǎng)物理(PHY)層是IEE895瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2024-02-27 08:22
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