為促進國產(chǎn)科學(xué)儀器發(fā)展，打好科學(xué)儀器設(shè)備國產(chǎn)化攻堅戰(zhàn)，加強國產(chǎn)儀器企業(yè)和高校研究之間的交流互動。

2025年10月21日，中星聯(lián)華攜手深圳技術(shù)大學(xué)集成電路與光電芯片學(xué)院，舉行《電子測量儀器全球格局與前沿應(yīng)用揭秘》和《ADC/DAC/PLL/SerDes概念及測試》大講堂。

聚焦理論知識，拓寬實戰(zhàn)視野

在本次大講堂中，中星聯(lián)華技術(shù)支持總監(jiān)蘇水金以其豐富的行業(yè)經(jīng)驗與扎實的專業(yè)素養(yǎng)，介紹了電子測量儀器測試前世今生，儀器的分類及其國內(nèi)外廠家，時域&射頻儀器種類、廠家、核心功能指標(biāo)和應(yīng)用場景；國內(nèi)外Top5儀器廠家和產(chǎn)品策略，國產(chǎn)與進口電子測量儀器的核心差異五個維度的分析，未來國內(nèi)外儀器的發(fā)展方向和趨勢；之后為大家介紹ADC/DAC/PLL/SerDes概念及測試，ADC/DAC工作原理解析和選型；ADC/DAC測試項目解讀和測試案例分享；PLL基本概念，應(yīng)用場景和測試案例分享；SerDes構(gòu)架、信號編碼、應(yīng)用場景和測試案例分享。

實踐與理論相結(jié)合

現(xiàn)場介紹了示波器、頻譜儀、信號源、誤碼儀、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、AWG等產(chǎn)品的發(fā)展歷史、重點指標(biāo)、市場情況等基本內(nèi)容，講解了ADC/DAC/PLL/SerDes概念及測試，ADC/DAC工作原理、選型、市場發(fā)展、產(chǎn)業(yè)化程度、測試方案等內(nèi)容，重點為大家詳細(xì)講解了當(dāng)前主流芯片的發(fā)展、ADC動態(tài)參數(shù)（SNR、SINAD、SFDR、THD、ENOB）和靜態(tài)參數(shù)（INL、DNL）測試、PLL 概念和測試、高速串行總線發(fā)展趨勢、實測案例等；高速SerDes芯片的內(nèi)部構(gòu)架PMD、PMA、PCS、應(yīng)用場景，Serdes芯片的RX測試；國內(nèi)外ADC、Serdes芯片水平差異以及應(yīng)用場景；解析了NRZ/PAM4信號的優(yōu)勢及劣勢以及應(yīng)用場景，為大家介紹了模擬信號源、矢量信號源、射頻信號采集記錄回放設(shè)備、SignalPro信號生成軟件、信道模擬器等電子測試測量儀器的關(guān)注指標(biāo)、實際測試經(jīng)驗、測試案例等。

實踐引領(lǐng) 智慧啟航

現(xiàn)場展開了詳細(xì)講解、并進行了現(xiàn)場演示，師生們了解了相關(guān)技術(shù)的原理和應(yīng)用場景，此次專題課程，充分發(fā)揮校企雙方各自優(yōu)勢，為學(xué)生搭建了理論與實踐測試案例相結(jié)合的學(xué)習(xí)平臺。在互動交流環(huán)節(jié)，參會的師生積極踴躍發(fā)言，圍繞儀器儀表、ADC/DAC/PLL/SerDes等相關(guān)內(nèi)容、未來發(fā)展趨勢，以及相關(guān)測試中的重點指標(biāo)等話題展開熱烈討論。現(xiàn)場交流氛圍濃厚，受到深圳技術(shù)大學(xué)師生的一致好評，廣大師生表示拓寬了自己的視野，獲得了許多寶貴的新思路和新啟發(fā)。

科技點亮未來

感謝深圳技術(shù)大學(xué)集成電路與光電芯片學(xué)院精心組織此次技術(shù)交流活動，通過與現(xiàn)場的師生們交流，我司深切感受到了深切感受到了深圳技術(shù)大學(xué)的學(xué)術(shù)氛圍和專研精神。尤其在與各位同學(xué)互動時，大家提出了富有深度的技術(shù)問題。期待未來能有更多機會與深圳技術(shù)大學(xué)的師生們交流合作，希冀未來校企可以碰撞出更多科技的火花，共同探索最新的前沿技術(shù)！

后續(xù)將在針對其他應(yīng)用內(nèi)容進行第二次演講，大家敬請期待第二講~

未來，中星聯(lián)華將繼續(xù)深化與相關(guān)高校的合作，不斷拓展校企合作領(lǐng)域、創(chuàng)新合作模式，持續(xù)協(xié)助高校開展人才培養(yǎng)方案，為推動相關(guān)行業(yè)的發(fā)展注入源源不斷的活力。

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