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使用 APx500 軟件檢測(cè)音頻毛刺與信號(hào)丟失

廈門(mén)同昌源儀器設(shè)備 ? 2025-10-20 09:02 ? 次閱讀
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在數(shù)字音頻播放系統(tǒng)中,音頻毛刺和信號(hào)丟失無(wú)疑是最令人困擾的問(wèn)題之一。當(dāng)一個(gè)設(shè)備丟失一個(gè)采樣點(diǎn)時(shí),這意味著什么?這意味著一個(gè)采樣點(diǎn)被跳過(guò),從那一刻起,整個(gè)波形在時(shí)間上向左平移了一個(gè)采樣瞬間。如果播放設(shè)備丟失了音頻采樣,根據(jù)丟失的采樣數(shù)量和發(fā)生位置,由此產(chǎn)生的不連續(xù)性可能會(huì)導(dǎo)致毛刺,這種毛刺可能非常刺耳,或者說(shuō),會(huì)讓聽(tīng)者感到不悅。因此,驗(yàn)證設(shè)備能否長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定播放信號(hào),是很常見(jiàn)的需求。APx500 軟件為此提供了兩種不同的工具:在序列模式(Sequence Mode) 下,您可以使用測(cè)量記錄器(Measurement Recorder);在工作臺(tái)模式(Bench Mode) 下,您可以使用記錄器(Recorder)。*

*APx500軟件為英文版,下文將使用英文表述:

序列模式 - Sequence Mode

工作臺(tái)模式 - Bench Mode

測(cè)量記錄器 - Measurement Recorder

記錄器 - Recorder


Sequence Mode

—— Measurement Recorder:

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Bench Mode —— Recorder:

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為了捕捉毛刺和信號(hào)丟失,我們通常推薦使用Bench Mode 下的 Recorder。Sequence Mode 的 Measurement Recorder 也可以使用,但總體而言,Bench Mode 的 Recorder 更為優(yōu)越。


要理解其原因,請(qǐng)參考我們之前關(guān)于 Bench Mode與 Sequence Mode 對(duì)比的文章:《工作臺(tái)模式與序列模式》。在Bench Mode Recorder與Sequence Mode Measurement Recorder的對(duì)比中,差異可能相當(dāng)明顯。


Sequence Mode Measurement Recorder 通過(guò)執(zhí)行非重疊 (non-overlapped)的 FFT 來(lái)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,其單個(gè)分析長(zhǎng)度等于所選讀數(shù)速率的倒數(shù)。如果選擇每秒 1 個(gè)讀數(shù)的速率,那么每秒就會(huì)執(zhí)行一次頻率分辨率為 1 Hz 的 FFT。這項(xiàng)技術(shù)有幾個(gè)重要的注意事項(xiàng)需要立即指出:首先,由于 FFT 實(shí)際上是對(duì)采集周期內(nèi)的能量進(jìn)行 RMS 平均,因此隨著讀數(shù)速率的降低,對(duì)快速瞬態(tài)的敏感度也會(huì)降低。其次,采集過(guò)程是非重疊的,并且 FFT 會(huì)進(jìn)行加窗處理。因此,如果一個(gè)毛刺恰好發(fā)生在采集區(qū)間的開(kāi)始或結(jié)束處,窗函數(shù)會(huì)衰減或降低測(cè)量對(duì)其的敏感度。


相比之下,Bench Mode Recorder 通過(guò)對(duì)傳統(tǒng)模擬測(cè)量電路的數(shù)字模擬來(lái)處理每一個(gè)音頻采樣,甚至包括對(duì)過(guò)沖和儀表動(dòng)態(tài)特性的仿真雖然為了獲得穩(wěn)定、可靠且可重復(fù)的測(cè)量結(jié)果,抑制儀表動(dòng)態(tài)特性通常是可取的,但在嘗試檢測(cè)毛刺、信號(hào)丟失和其他瞬態(tài)時(shí),情況并非如此,因?yàn)檫@些時(shí)變非線性特性正是我們需要的。最后,通過(guò)在時(shí)域進(jìn)行分析,有效的讀數(shù)速率可以高得多。


讓我們用一個(gè)實(shí)際例子來(lái)探討這個(gè)問(wèn)題:一個(gè)采樣率為 48 kHz、幅度為 -6 dBFS 的 1 kHz 正弦波。我們創(chuàng)建了一個(gè)每秒丟失一次采樣的信號(hào)。在前10秒,信號(hào)丟失發(fā)生在零點(diǎn)穿越處。在接下來(lái)的10秒,信號(hào)丟失發(fā)生在正弦波的峰值處。


RMS Level隨時(shí)間的變化 – 2 Readings/s – Sequence Mode 與 Bench Mode:

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單個(gè)丟失的采樣點(diǎn)對(duì)總信號(hào)能量的貢獻(xiàn)非常小。因此,檢查 RMS 電平并非檢測(cè)它們的最佳方法。然而,在這里您可以立即看到 Sequence Mode 和 Bench Mode 之間的對(duì)比。Sequence Mode 在 500ms 的周期內(nèi)對(duì)信號(hào)進(jìn)行積分,單個(gè)丟失的采樣點(diǎn)被簡(jiǎn)單地平均掉了。相比之下,在 Bench Mode 中,即使是單個(gè)采樣點(diǎn)也足以產(chǎn)生可檢測(cè)到的波動(dòng),盡管幅度很小。


如果我們將讀數(shù)速率增加到最大值,差異會(huì)變得更加明顯。


RMS 電平隨時(shí)間的變化 – Sequence Mode 下 20 Readings/s vs. Bench Mode 下 250 Readings/s:

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在兩種不同模式支持的最大讀數(shù)速率下,Bench Mode 可以捕捉到這些毛刺。Sequence Mode 的結(jié)果顯示了一些非常微小的波動(dòng),但粗心的觀察者很容易將其誤認(rèn)為是噪聲。


通常,在測(cè)試毛刺和信號(hào)丟失時(shí),最好使用的結(jié)果是 THD+N。一個(gè)丟失或畸變的音頻采樣點(diǎn)實(shí)際上是一個(gè)脈沖。聽(tīng)起來(lái)就像是咔噠聲。它們會(huì)產(chǎn)生一個(gè)寬帶響應(yīng),因此會(huì)對(duì)設(shè)備的失真產(chǎn)生負(fù)面影響。所以,讓我們用相同的采樣信號(hào)來(lái)探討 THD+N。


THD+N 比率隨時(shí)間的變化 – 2 Readings/s – Sequence Mode 與 Bench Mode:

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在這個(gè)較低的讀數(shù)速率下,結(jié)合我們對(duì)測(cè)試信號(hào)的了解來(lái)對(duì)比這兩種技術(shù)是很有趣的。在前 10秒,毛刺發(fā)生在零點(diǎn)穿越處,而在接下來(lái)的 10秒,它發(fā)生在正弦波的峰值處。在 Sequence Mode 中,當(dāng)信號(hào)丟失在零點(diǎn)穿越處時(shí),其對(duì)噪聲的貢獻(xiàn)被 500 ms 的積分時(shí)間平均掉了。而 Sequence Mode 可以檢測(cè)到在正弦波峰值處的信號(hào)丟失,因?yàn)檫@部分能量貢獻(xiàn)要大得多。相比之下,Bench Mode 既能檢測(cè)到零點(diǎn)穿越處的信號(hào)丟失,也能檢測(cè)到正弦波峰值處的信號(hào)丟失。


在各自的最大讀數(shù)速率下,Bench Mode 和 Sequence Mode 都能檢測(cè)到所有的信號(hào)丟失。

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嘗試檢測(cè)毛刺和信號(hào)丟失時(shí),既可以使用Bench Mode Recorder,也可以使用Sequence Mode Measurement Recorder。然而Bench Mode Recorder更為靈敏。無(wú)論使用哪種功能,THD+N都是最有可能顯示毛刺的結(jié)果。為了最大化 THD+N 結(jié)果的靈敏度,我們建議將分析儀的Notch Tuning Mode(陷波器調(diào)諧模式)設(shè)置為Fixed Frequency(固定頻率),并輸入預(yù)定的測(cè)試信號(hào)頻率。此外,如果使用 Bench Mode Recorder,請(qǐng)確保取消勾選 “Make Settled Readings”(進(jìn)行穩(wěn)定讀數(shù))復(fù)選框。

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