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同惠TH2810與TH2830 LCR電橋技術(shù)對(duì)比

agitek2021 ? 來(lái)源:agitek2021 ? 作者:agitek2021 ? 2025-10-18 10:01 ? 次閱讀
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同惠電子的TH2810與TH2830系列LCR數(shù)字電橋均為高精度阻抗測(cè)試儀器,廣泛應(yīng)用于電子元器件檢測(cè)、科研實(shí)驗(yàn)及生產(chǎn)線質(zhì)量控制。本文從核心參數(shù)、功能特性及適用場(chǎng)景三個(gè)維度對(duì)比二者技術(shù)差異,為選型提供參考。

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一、核心性能參數(shù)對(duì)比

1. 測(cè)試頻率與精度

TH2810B頻率范圍覆蓋100Hz-10kHz,基本精度0.05%,適用于中低頻元件測(cè)試;TH2830頻率擴(kuò)展至50Hz-200kHz(部分型號(hào)),精度同為0.05%,滿足更寬頻段需求。高頻拓展使TH2830更適配變壓器、高頻電感等復(fù)雜元件測(cè)試。

2. 信號(hào)源與輸出阻抗

兩款儀器均提供30Ω/100Ω可選信號(hào)源阻抗,但TH2830新增DC偏置功能(±5V/50mA),支持直流疊加測(cè)試,增強(qiáng)對(duì)偏置條件下元件特性的分析能力。

3. 測(cè)試速度與分辨率

TH2810B最快測(cè)試速度19ms/次,6位讀數(shù)分辨率;TH2830優(yōu)化至12.5ms/次,分辨率提升至6位,兼顧效率與精度,更適合批量高速檢測(cè)場(chǎng)景。

二、功能特性差異

1. 分選與接口

TH2810B支持五檔分選及HANDLER接口,滿足基礎(chǔ)分選需求;TH2830升級(jí)為10檔分選,并集成RS232/RS485/USB/GPIB等豐富接口,配合U盤存儲(chǔ)與程序升級(jí)功能,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)集成。

2. 智能輔助功能

TH2830獨(dú)有的空夾具判斷功能可自動(dòng)識(shí)別夾具異常,避免誤判;智能歸零技術(shù)支持201點(diǎn)校正,提升測(cè)試穩(wěn)定性。此外,其列表掃描功能可自定義201個(gè)測(cè)試點(diǎn),直觀呈現(xiàn)元件特性變化趨勢(shì)。

3. 顯示與操作界面

TH2830采用4.3寸TFT彩屏,中英文界面更直觀,支持同時(shí)顯示參數(shù)與測(cè)試結(jié)果(L-RDC同步顯示);TH2810B或?yàn)閭鹘y(tǒng)數(shù)碼管+按鍵設(shè)計(jì),操作便捷性相對(duì)遜色。

三、應(yīng)用場(chǎng)景適配

TH2810B:適合生產(chǎn)線快速質(zhì)檢、元器件基礎(chǔ)參數(shù)驗(yàn)證,對(duì)成本敏感且測(cè)試頻率集中于中低頻的場(chǎng)景。

TH2830:更適用于科研院所、實(shí)驗(yàn)室高精度測(cè)試需求,尤其適配高頻元件研發(fā)、變壓器參數(shù)分析等復(fù)雜應(yīng)用,兼顧自動(dòng)化與多功能擴(kuò)展。

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總結(jié)

TH2810B以經(jīng)濟(jì)實(shí)用定位滿足基礎(chǔ)測(cè)試需求,而TH2830通過(guò)高頻擴(kuò)展、智能功能及自動(dòng)化接口升級(jí),為高端應(yīng)用提供更全面解決方案。用戶可根據(jù)測(cè)試頻率范圍、精度要求及系統(tǒng)集成需求靈活選型。

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