IGBT好壞的測(cè)量方法

PART1

先確定極性

在測(cè)量 IGBT 好壞之前，先必須要確定 IGBT的極性。

將萬(wàn)用表設(shè)置到 R×1KQ 位置。用萬(wàn)用表測(cè)量時(shí)，如果一級(jí)和另外兩極的電阻值是無窮大的，則更換表筆后該極和另外兩極的電阻值仍然是無窮大，則判斷此極是柵極（G）。

用萬(wàn)用表測(cè)量剩下的兩極，如果被測(cè)電阻為無窮大，則更換表筆后被測(cè)電阻變小。在第一次測(cè)量到小電阻值時(shí)，判斷紅色表筆接集電極（C），黑色表筆接發(fā)射極（E）。

PART2

柵極觸發(fā)

將 3 個(gè)端子短接在一起，使 IGBT 放電。在測(cè)試過程中不要觸摸任何端子，始終將 IGBT 保持在黑色外殼上。將最小的引線作為連接，然后使用電阻從 C （集電極）端提供觸發(fā)電壓到觸發(fā) G（柵極） 端，好的 IGBT 會(huì)使萬(wàn)用表的指針向前移動(dòng)并指向某個(gè)電阻。

IGBT好壞測(cè)量圖解：

電阻連接到 IGBT 圖

然后移除電阻（觸發(fā)電壓），IGBT 仍然讓電流流動(dòng)，并且在觸發(fā)柵極時(shí)指針仍然指向相同的位置。去除觸發(fā)電壓后，指針仍指向同一位置（為良好的IGBT），否則為壞的IGBT。

IGBT好壞測(cè)量圖解：

IGBT好壞測(cè)量圖解--將電阻從G端移除圖

PART3

二極管檔測(cè)試

IGBT 有3個(gè)腳，分別是G（柵極）、C（集電極）和 E（發(fā)射極），其工作原理是輸入電壓控制輸出電流。我們可以使用這個(gè)基本偏差來測(cè)試它是一個(gè)壞的還是好的 IGBT。

重要說明：這里使用的模擬萬(wàn)用表是黑色表筆是V+ 紅色表筆是V- 的版本，當(dāng)設(shè)置為電阻測(cè)試功能時(shí)。

IGBT好壞測(cè)量圖解--萬(wàn)用表測(cè)IGBT好壞

樣品 IGBT圖

1、模擬萬(wàn)用表測(cè)IGBT 好壞

1） 從數(shù)據(jù)表（datasheet）中獲取 IGBT 引腳圖。

2）將測(cè)試線與 IGBT 的管腳連接起來，如下圖所示。

IGBT好壞測(cè)試圖解--測(cè)試連接圖

3）將模擬萬(wàn)用表設(shè)置為 Rx10K，因?yàn)榇朔秶鷮⒂蓛?nèi)部電池提供 9VDC。9VDC 足夠高以偏置門極，因此 IGBT 處于導(dǎo)通狀態(tài)。

4）用電阻的腳在 G 印腳和 C 引腳之間臨時(shí)連接，萬(wàn)用表的指針向前移動(dòng)到低電阻，如下圖所示。

IGBT好壞測(cè)試圖解--將電阻與IGBT G端和C端臨時(shí)連接

5）去掉電阻引腳后，萬(wàn)用表指針位置不變，因?yàn)?IGBT 仍然工作在 ON狀態(tài)，這是 IGBT 指示良好，而壞的IGBT不能保持 ON 狀態(tài)，所以萬(wàn)用表指針向后移動(dòng)到∞位置拆下電阻的引腳后。

IGBT 好壞測(cè)試圖解--去掉電阻后測(cè)試

6）測(cè)試 OFF 狀態(tài)，用電阻管腳臨時(shí)連接 G （柵極）管腳和 E（發(fā)射極）管腳。好的 IGBT 可以偏置到 ON 和 OFF 狀態(tài)，而不好的 IGBT 不能偏置到 ON 和 OFF 狀態(tài)。

IGBT好壞測(cè)試圖解--測(cè)試off狀態(tài)

2、數(shù)字萬(wàn)用表測(cè)IGBT 好壞

用數(shù)字萬(wàn)用表測(cè)試 IGBT 好壞的步驟：

1）根據(jù) IGBT 型號(hào)在數(shù)據(jù)手冊(cè)（datasheet）查找引腳功能。

2）將 IGBT 的 3 個(gè)引腳短接或者連接在一起放電，然后不要接觸引腳。

IGBT引腳圖

3）如果 C 和 E 腳有二極管，將數(shù)字萬(wàn)用表設(shè)置為二極管測(cè)試功能，好的二極管在正向偏置時(shí)會(huì)顯示 0.5-0.8 V 的電壓，并在扭轉(zhuǎn)偏差時(shí)顯示 “OL”。壞的 IGBT（短路）將顯示 000V，壞的 IGBT（開路）將顯示 “OL” 2 次。

IGBT好壞測(cè)試圖解-帶有二極管的 CE 腳測(cè)試

IGBT好壞測(cè)試圖解-帶二極管的 CE 腳測(cè)試（反向測(cè)試線）

4）如果 C 和 E 引腳沒有二極管，將數(shù)字萬(wàn)用表設(shè)置為電阻測(cè)試功能，好的IGBT有結(jié)果。好的IGBT會(huì)顯示高阻 1 次，顯示 “OL” 1 次。壞的 IGBT(短路) 顯示 0 ohm 2 次，壞的 IGBT(開路 ) 顯示 “OL” 2 次。

IGBT 好壞測(cè)試圖解--CE 引腳測(cè)試， CE引腳上沒有連接二極管

IGBT好壞測(cè)試圖表-CE 引腳腳測(cè)試（反向測(cè)試線），CE引腳上沒有連接二極管

5）檢查 G （柵極）和 C（集電極） 引腳，將測(cè)試線連接到 G（柵極） 和 C （集電極）引腳。

6）將數(shù)字萬(wàn)用表設(shè)置為電阻測(cè)試功能，好的 IGBT 會(huì)顯示 2 次“OL”，因?yàn)樵跂艠O引腳結(jié)處有一個(gè)絕緣體，所以萬(wàn)用表無法測(cè)量該電阻（顯示“OL”）是非常非常高的電阻。不良的 IGBT（柵極泄漏）會(huì)顯示出一些電阻。

IGBT好壞測(cè)試圖解-G和C管引腳測(cè)試

7）檢查G（柵極）和E（發(fā)射極）引腳，將數(shù)字萬(wàn)用表設(shè)置為電阻測(cè)試功能。

8）將測(cè)試線連接到 G （柵極）和 E （發(fā)射極）引腳，進(jìn)行測(cè)試，然后切換測(cè)試線重新測(cè)試。好的IGBT會(huì)顯示“OL” 2 次，因?yàn)闁艠O引腳結(jié)有一個(gè)絕緣體，所以萬(wàn)用表無法測(cè)量這個(gè)電阻是非常非常高的電阻。不良的 IGBT（柵極泄漏）會(huì)表現(xiàn)出一些電阻。

IGBT好壞測(cè)試圖解--G和E引腳測(cè)試

3、電阻檔測(cè)試

如果大家知道使用基本的萬(wàn)用表并且知道如何測(cè)試二極管，就可以輕松地測(cè)試 IGBT 。測(cè)試 IGBT 注意三個(gè)引腳（G、E、C）。

IGBT電路圖

有些型號(hào)的 IGBT 具有跨 C和 E 端子連接的內(nèi)部二極管，大電流和大 IGBT 往往會(huì)因?yàn)槎搪泛烷_路的情況失效，因此在測(cè)試所有過程之前，先檢查短路和開路情況。

用萬(wàn)用表電阻檔測(cè)試 IGBT 的步驟：

1）使用電阻引腳或者其他類似的金屬線將 3 個(gè)端子短接在一起，使 IGBT 放電。放電后不能觸碰任何端子，在測(cè)試過程使用保持在絕緣區(qū)域或者黑色外殼上，在進(jìn)行任何測(cè)試前，記得前從電路板上把 IGBT 給取下來。

將 3 個(gè)端子短接在一起，使 IGBT 放電

2）使用 Rx1K Ohm 范圍測(cè)試 C 和 E 端子。觸摸表筆并讀取測(cè)量值。切換表筆并再次讀取測(cè)量值。好的 IGBT 會(huì)顯示一些電阻 1 次和“ ∞ ”1 次。短路 IGBT 將指向“ 0 Ohm ”2 次，開路的 IGBT 將指向“ ∞ ”2 次。

IGBT好壞測(cè)試圖解-好的 IGBT 會(huì)指向某個(gè)電阻 1 倍

IGBT好壞測(cè)試圖解-好的 IGBT 將指向“ ∞ ”刻度 1 次

3）使用 Rx10K Ohm 范圍測(cè)試 G 和 C 端子。觸摸表筆并讀取測(cè)量值。切換表筆并再次讀取測(cè)量值。好的 IGBT 會(huì)顯示“∞ ” 2 次。

使用 Rx10K Ohm 范圍測(cè)試 G 和 C 端子

4）使用 Rx10K Ohm 范圍測(cè)試 G 和 E 端子。觸摸表筆并讀取測(cè)量值。切換表筆并再次讀取測(cè)量值。好的 IGBT 會(huì)顯示“∞” 2 次。

IGBT好壞測(cè)試圖解-使用 Rx10K Ohm 范圍測(cè)試 G 和 E 端子

所有步驟 1、2、3 到 4 每次測(cè)試都必須處于良好狀態(tài)，因此 IGBT 處于良好狀態(tài)，只要有 1 步中的任何一步失敗，則 IGBT 已經(jīng)壞了。