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加速科技Flex10K-L測試機(jī):以硬核創(chuàng)新重塑顯示驅(qū)動(dòng)芯片測試新標(biāo)桿!

方朵朵 ? 來源:方朵朵 ? 作者:方朵朵 ? 2025-03-06 17:19 ? 次閱讀
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在2024年召開的世界顯示產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新發(fā)展大會上,加速科技自主研發(fā)的高密度顯示驅(qū)動(dòng)芯片測試設(shè)備Flex10K-L憑借其突破性技術(shù)創(chuàng)新,成功入選"十大創(chuàng)新技術(shù)(產(chǎn)品)"。作為國內(nèi)顯示驅(qū)動(dòng)芯片測試領(lǐng)域的標(biāo)桿性設(shè)備,F(xiàn)lex10K-L以全場景覆蓋能力與尖端技術(shù)架構(gòu),為新型顯示產(chǎn)業(yè)鏈注入強(qiáng)勁測試動(dòng)能。

整體架構(gòu)

Flex10K-L主要應(yīng)用于各類顯示驅(qū)動(dòng)芯片測試,具有領(lǐng)先的測試性能和量產(chǎn)測試能力,可以有效地降低高分辨率屏顯驅(qū)動(dòng)芯片的測試成本,支持LCD、OLED、MiniLED、Micro LED等驅(qū)動(dòng)芯片的CP/FT測試。其優(yōu)秀的模塊化硬件架構(gòu)由三大核心部件構(gòu)成:

?MainFrame主控機(jī)柜:集成40Gbps超高速通信、精準(zhǔn)校準(zhǔn)與液冷溫控系統(tǒng),確保機(jī)臺長期穩(wěn)定運(yùn)行;
?TH測試機(jī)頭:最高支持31個(gè)資源槽位,動(dòng)態(tài)資源配置,可靈活擴(kuò)展DFB/LPB/HSIF等功能板卡;
?Hifix:智能接口平臺實(shí)現(xiàn)跨代設(shè)備兼容,可擴(kuò)展至4096測試通道,同時(shí)支持ND3/ND4C/ND4S多代針卡的無縫切換,幫助客戶節(jié)省治具轉(zhuǎn)換成本。


圖|高密度顯示驅(qū)動(dòng)芯片測試設(shè)備Flex10K-L

功能板卡

在顯示驅(qū)動(dòng)芯片領(lǐng)域,LCD Driver 芯片測試對測試設(shè)備提出了高速率、高精度的要求。Flex10K-L通信帶寬可達(dá)40Gbps,為DDIC芯片測試帶來了更強(qiáng)大的數(shù)據(jù)傳輸和計(jì)算能力;搭載的DFB資源板卡,支持256通道數(shù)字IO,有著業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的測試速度和測試向量容量;LPB板集成256通道高精度MDGT,測試精度更是達(dá)到了業(yè)內(nèi)一流水準(zhǔn);通過這些高精度的資源板卡,實(shí)現(xiàn)測試中更高的速率和精確性,滿足高性能顯示驅(qū)動(dòng)芯片測試的需求。

三大創(chuàng)新優(yōu)勢

?架構(gòu)優(yōu)異:
?采用先進(jìn)的通信技術(shù)框架,具有高性能、高可靠性的特點(diǎn);
?測試功能模塊化、槽位資源豐富,可根據(jù)需求降低測試成本;
?采用液冷散熱,冷卻效果優(yōu)異,產(chǎn)品性能穩(wěn)定;

?支持多種Hifix,可兼容ND3、ND4C針卡,節(jié)省轉(zhuǎn)平臺治具費(fèi)用;
?支持一臺測試機(jī)同時(shí)滿足CP晶圓測試,F(xiàn)T成品測試(COF、COG等封閉形式)需求。

?性能強(qiáng)大:
?通信帶寬可達(dá)40Gbps,可以實(shí)現(xiàn)高性能數(shù)據(jù)傳輸和計(jì)算;
?精心設(shè)計(jì)的模擬電路,精度更高,測試參數(shù)誤差最小可達(dá)到0.01%;
?針對LCD芯片測試進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì),支持異步加速計(jì)算及調(diào)度,測試效率更高;
?機(jī)臺測試效率與友商機(jī)臺基本一致。

?軟件友好:
?集成Flex-IDE軟件,提供行業(yè)主流開發(fā)環(huán)境,開發(fā)和調(diào)試工具豐富;
?針對工廠量產(chǎn)提供獨(dú)立GUI,支持定制化工廠系統(tǒng)連接方案,便利智能化工廠管理。

站在全球顯示產(chǎn)業(yè)變革的潮頭,F(xiàn)lex10K-L的獲獎(jiǎng),印證了中國企業(yè)在高端測試設(shè)備領(lǐng)域從追趕者向領(lǐng)跑者的角色轉(zhuǎn)變。隨著顯示技術(shù)向更高分辨率、更柔性形態(tài)發(fā)展,加速科技正持續(xù)加碼4K/8K顯示驅(qū)動(dòng)、硅基OLED等前沿領(lǐng)域測試方案研發(fā),F(xiàn)lex10K-L將持續(xù)賦能顯示產(chǎn)業(yè)向超精密、低功耗、高環(huán)境適應(yīng)性方向演進(jìn),助力顯示產(chǎn)業(yè)新躍遷。

審核編輯 黃宇

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