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怎么測(cè)試開(kāi)關(guān)電源開(kāi)機(jī)延遲時(shí)間?測(cè)試方法是什么?

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來(lái)源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2023-11-16 15:01 ? 次閱讀
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開(kāi)機(jī)延遲時(shí)間是指電源打開(kāi)時(shí),電源輸入到輸出之間的時(shí)間差。開(kāi)關(guān)電源采用功率半導(dǎo)體器件作為開(kāi)關(guān)元件,通過(guò)周期性通斷開(kāi)關(guān),控制開(kāi)關(guān)元件的占空比來(lái)調(diào)整輸出電壓。開(kāi)機(jī)延遲時(shí)間測(cè)試是檢測(cè)開(kāi)關(guān)電源響應(yīng)速度的方法之一,從而來(lái)判斷開(kāi)關(guān)電源的性能。

開(kāi)關(guān)電源的開(kāi)機(jī)延遲時(shí)間測(cè)試

測(cè)試目的:測(cè)試S.M.P.S.電源開(kāi)通時(shí), 輸入電壓AC LINE與輸出的時(shí)間差,一般要求不超過(guò)3000mS。

測(cè)試設(shè)備:交流電源、電子負(fù)載、示波器

測(cè)試條件:

wKgZomVVviSAeVJjAAESsVEWifY470.png

測(cè)試方法:

1.依規(guī)格設(shè)定AC LINE,頻率和輸出負(fù)載,一般為L(zhǎng)OW LINE、最大負(fù)載、時(shí)間最長(zhǎng)。

2.示波器的CH1接Vo為T(mén)RIGGER SOURCE,CH2接AC LINE。

3.TRIGGER LEVEL設(shè)定在Vo的60% ~ 80%間較為妥當(dāng),TRIGGER SLOPE設(shè)定在“+”,VOLTS/DIV和TIME/DIV視實(shí)際情況而定。

4.用CURSOR中“TIM”量測(cè)AC ON至Vo LOW LIMIT的時(shí)間差。

注意事項(xiàng):

1.測(cè)試前先將待測(cè)品處于冷機(jī)狀態(tài),待BULK Cap.電荷放盡后進(jìn)行測(cè)試;

2.示波器需要使用隔離變壓器

wKgaomVVviiACqroAAGBx94P5EY191.png

開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)助力開(kāi)機(jī)延遲時(shí)間測(cè)試

開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)是檢測(cè)開(kāi)關(guān)電源質(zhì)量、性能、穩(wěn)定性和可靠性的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),支持用戶自己創(chuàng)建測(cè)試程序和方案,對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行可視化數(shù)據(jù)看板分析,并生成數(shù)據(jù)報(bào)告。

開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)的自動(dòng)化體現(xiàn)在提供軟硬件方案,支持模擬多種測(cè)試環(huán)境,測(cè)試能力強(qiáng);項(xiàng)目支持調(diào)試和復(fù)用,方便修改且適用于大批量測(cè)試環(huán)境,極大提高測(cè)試效率。對(duì)于需要多次測(cè)試的開(kāi)關(guān)電源測(cè)試項(xiàng)目而言,比如開(kāi)關(guān)循環(huán)測(cè)試,在電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)上只需利用節(jié)點(diǎn)輸入測(cè)試次數(shù)便可進(jìn)行多次測(cè)試,極大簡(jiǎn)化了測(cè)試程序。此外,用開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試,無(wú)需手動(dòng)記錄和分析測(cè)試數(shù)據(jù),系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)記錄并全方位分析。

開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單,兼容多種儀器型號(hào),遠(yuǎn)程測(cè)試更是可以實(shí)現(xiàn)隨時(shí)隨地測(cè)試,是開(kāi)發(fā)測(cè)量或控制系統(tǒng)的理想選擇。

審核編輯:湯梓紅

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