以白光干涉為原理的光纖微裂紋檢測(cè)儀，最初受限于延時(shí)纖的測(cè)量長(zhǎng)度，只能測(cè)試6cm,使得測(cè)試場(chǎng)景非常局限，為解決測(cè)量長(zhǎng)度問題，昊衡科技?xì)v時(shí)3年，推出測(cè)量長(zhǎng)度1m的國(guó)產(chǎn)光纖微裂紋檢測(cè)儀。

光纖微裂紋檢測(cè)儀測(cè)量長(zhǎng)度升級(jí)到1m,是希望能更大程度滿足客戶測(cè)試所需，解決客戶不斷匹配跳線，測(cè)試繁瑣問題，1m的測(cè)試長(zhǎng)度能更大限度包容待測(cè)樣品，為測(cè)試器件留有更大空間，更便捷客戶使用。

設(shè)備測(cè)試性能和穩(wěn)定性也有了質(zhì)的飛躍，在升級(jí)長(zhǎng)度過(guò)程中，不斷迭代已有的光路和模塊，長(zhǎng)時(shí)間的實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，以最優(yōu)化的結(jié)構(gòu)，提升設(shè)備測(cè)試效果。

以下是光纖微裂紋檢測(cè)儀測(cè)量保偏光鏈路，該器件長(zhǎng)0.955m,末端是保偏光纖，OLI能測(cè)試出由保偏光纖雙折射引起的2個(gè)不同時(shí)延峰值。OLI以1μm的采樣分辨率能清晰判別出鏈路中光模塊的好壞以及光纖裂紋檢測(cè)。

圖1.保偏光鏈路測(cè)試圖

昊衡推出的光纖微裂紋檢測(cè)儀叫做低成本光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)（OLI），該系統(tǒng)通過(guò)讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測(cè)量整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗， 進(jìn)而判斷此測(cè)量范圍內(nèi)鏈路的性能，其事件點(diǎn)定位精度高達(dá)幾十微米，最低可探測(cè)到-80dB光學(xué)弱信號(hào)，廣泛用于光纖或光器件損傷檢測(cè)以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。

圖2.低成本光學(xué)鏈路診斷儀

OLI 低成本光學(xué)鏈路診斷儀產(chǎn)品應(yīng)用

光纖微裂紋檢測(cè)

硅光芯片、PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測(cè)

FA光纖陣列鏈路性能檢測(cè)

光器件、光模塊內(nèi)部耦合點(diǎn)、連接點(diǎn)性能檢測(cè)