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什么是自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)?如何進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試?

虹科衛(wèi)星與無(wú)線電通信 ? 2022-05-09 16:46 ? 次閱讀
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在過(guò)去,大型生產(chǎn)環(huán)境和實(shí)驗(yàn)室是進(jìn)行研發(fā)的主要場(chǎng)所,這導(dǎo)致了市場(chǎng)上大多數(shù)都是全功能臺(tái)式設(shè)備。然而,如今越來(lái)越多的測(cè)試和驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)正在尋找更便攜、更經(jīng)濟(jì)高效的解決方案,他們不需要復(fù)雜的GPIB布線和專用軟件。一般來(lái)說(shuō),如果沒有專業(yè)技術(shù)人員,自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)的調(diào)試會(huì)很困難,而現(xiàn)在,測(cè)試工程師可以體驗(yàn)可連接常用軟件平臺(tái)API的編程組件的靈活性。

現(xiàn)狀

ATE可以是利用少量設(shè)備的簡(jiǎn)單測(cè)試,也可以是大型復(fù)雜測(cè)試,包括探測(cè)站、氣動(dòng)自動(dòng)化、以及機(jī)器人自動(dòng)化等。與傳統(tǒng)的半自動(dòng)或手動(dòng)測(cè)試相比,PC驅(qū)動(dòng)的有源組件可以提供巨大的優(yōu)勢(shì)。

射頻領(lǐng)域,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)或頻譜分析儀等測(cè)試設(shè)備的接收端口數(shù)量有限,需要增加對(duì)設(shè)置的物理調(diào)整次數(shù),以獲得全面測(cè)試被測(cè)多端口設(shè)備(DUT)所需的所有探測(cè)排列。所有這些測(cè)試設(shè)置排列不可避免地增加了成本和時(shí)間,例如,測(cè)試共有9個(gè)端口的8路RF交換機(jī)需要大量的測(cè)試迭代來(lái)收集全部81個(gè)S參數(shù)。如果沒有自動(dòng)開關(guān),該測(cè)試可能會(huì)耗費(fèi)大量人力。通過(guò)預(yù)先編程的內(nèi)部開關(guān)排列測(cè)試DUT的每個(gè)單獨(dú)S參數(shù),標(biāo)準(zhǔn)VNA的2-4個(gè)端口足以在一次測(cè)試迭代中測(cè)試所有參數(shù)。

優(yōu)勢(shì)

常用的射頻組件包括移相器、射頻開關(guān)和數(shù)字衰減器,以及一些更復(fù)雜的測(cè)試設(shè)備,如VNA、信號(hào)發(fā)生器、脈沖發(fā)生器和功率計(jì)。通常,射頻組件需要對(duì)特定輸出進(jìn)行手動(dòng)控制,測(cè)試設(shè)備數(shù)據(jù)需要進(jìn)行重新格式化,以便用于分析和共享數(shù)據(jù)。

例如,數(shù)字衰減器傳統(tǒng)上由晶體管-晶體管邏輯(TTL)控制,其中低電壓產(chǎn)生0的邏輯電平,高電壓產(chǎn)生1的邏輯電平。這些邏輯電平?jīng)Q定了數(shù)字衰減器中用于產(chǎn)生所需衰減的路徑。這種方法需要復(fù)雜的編程、TTL驅(qū)動(dòng)程序和大量的互連。而類似虹科數(shù)字衰減器這樣的USB設(shè)備,可以消除這種復(fù)雜性。它的衰減級(jí)別可以直接編程,無(wú)需TTL連接,只需一個(gè)USB連接即可。

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通常情況下,測(cè)試可能需要工程師監(jiān)控和調(diào)整各種各樣的輸出,以實(shí)現(xiàn)要求,跟蹤所有旋鈕、按鈕、適配器和插頭有時(shí)可能會(huì)容易出現(xiàn)人為錯(cuò)誤。虹科提供了軟件平臺(tái)和操作指南,可以簡(jiǎn)化測(cè)試流程,更容易在一個(gè)控制器、筆記本電腦或計(jì)算機(jī)上進(jìn)行跟蹤,同時(shí)記錄和分析數(shù)據(jù)的能力有助于設(shè)計(jì)和測(cè)試工程師輕松評(píng)估DUT性能。

虹科提供可編程USB驅(qū)動(dòng)的射頻儀器,它們具有圖形用戶界面(GUI)、Windows dll文件、LinuxlabVIEW兼容的驅(qū)動(dòng)程序。虹科提供的USB驅(qū)動(dòng)的信號(hào)發(fā)生器、數(shù)字衰減器、RF開關(guān)和移相器等設(shè)備,幾乎可以成為任何自動(dòng)測(cè)試設(shè)置的關(guān)鍵一環(huán),小巧的尺寸也可以為那些電纜雜亂的測(cè)試環(huán)境提供更多的操作空間。

虹科HK-LDA906V-8數(shù)字衰減器是一種高精度、雙向、8通道階躍衰減器,它提供從200-6000MHz的校準(zhǔn)衰減,步長(zhǎng)為0.1dB,在90dB的控制范圍內(nèi),典型精度<0.25 dB。該數(shù)字衰減器是一種易于攜帶的USB供電設(shè)備,其尺寸適合ATE應(yīng)用的單個(gè)機(jī)架單元,可以用于WiMAX、3G、4G、5G、LTE、DVB和微波無(wú)線電衰落模擬器,以及工程和生產(chǎn)測(cè)試實(shí)驗(yàn)等領(lǐng)域。

特征

  • 可靠且可重復(fù)的固態(tài)數(shù)字衰減
  • 包括GUI、Windows和Linux SDK、LabVIEW驅(qū)動(dòng)程序
  • 可編程掃描衰減和衰減曲線
  • 直接從PC或自供電集線器操作多臺(tái)設(shè)備
  • 易于攜帶的USB供電設(shè)備
  • 尺寸適合ATE應(yīng)用的單個(gè)機(jī)架單元

應(yīng)用

  • WiMAX、3G、4G、5G、LTE、DVB、微波無(wú)線電衰落模擬
  • 工程/生產(chǎn)測(cè)試
  • 自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)

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