重要要點(diǎn)：

l印刷電路板上使用的測試點(diǎn)有哪些不同類型？

l為什么PCB測試點(diǎn)對(duì)成功制造電路板很重要？

只需提及“測試”一詞，大多數(shù)人就會(huì)感到自己的心跳加速。從上小學(xué)的第一天開始，似乎就有一種關(guān)于考試的恐懼。但是，眾所周知，測試是生活中非常重要的一部分。您不希望與未通過飛行檢查的飛行員一起乘坐飛機(jī)飛行，而外科醫(yī)生沒有通過他的基本解剖學(xué)課程揮舞著手術(shù)刀的想法會(huì)嚇到所有人。

我們設(shè)計(jì)的電路板也需要通過一些測試。在他們的情況下，測試將確定它們的制造質(zhì)量。為了進(jìn)行此測試，必須為電路板準(zhǔn)備好測試探針可以訪問的特定元素。這些元素稱為測試點(diǎn)，它們包含在PCB設(shè)計(jì)中非常重要。讓我們在這里花幾分鐘時(shí)間討論一下PCB測試點(diǎn)，以及為什么它對(duì)于完成電路板的成功如此重要。

不同類型的PCB測試點(diǎn)

印刷電路板上使用的測試點(diǎn)主要有兩種。第一個(gè)是技術(shù)人員使用手持式測試設(shè)備可輕松訪問的點(diǎn)。為了解決這個(gè)問題，通常在這些點(diǎn)上焊接一個(gè)接線柱，以夾住測試引線。這些測試點(diǎn)將標(biāo)有參考標(biāo)記，通常在絲網(wǎng)印刷中標(biāo)有網(wǎng)名，以方便參考，例如“ GND”。

另一種類型的測試點(diǎn)主要用于自動(dòng)化測試設(shè)備。電路板上的自動(dòng)測試點(diǎn)是通孔引腳，過孔或小型金屬焊盤，其設(shè)計(jì)用于容納自動(dòng)測試系統(tǒng)的探針。有三種主要的測試系統(tǒng)將在板上使用這些測試點(diǎn)：

l裸板測試：這是在制造電路板之后進(jìn)行的測試，以確保板上的所有網(wǎng)絡(luò)均具有電氣連通性。

l在線測試：組裝電路板后運(yùn)行ICT。該板位于ICT固定裝置上，該固定裝置中裝有用于每個(gè)單獨(dú)網(wǎng)絡(luò)的探針。這些固定裝置通常測試電路板的底部，但是如果需要，它們也可以一起測試電路板的頂部或兩側(cè)。

l飛針：與ICT一樣，該測試是在組裝完成后通過訪問測試點(diǎn)在電路板上的每個(gè)網(wǎng)上進(jìn)行的。但是，不同之處在于，飛針設(shè)備使用2到6個(gè)可移動(dòng)到每個(gè)測試點(diǎn)的探針，而不是像ICT那樣在固定裝置中使用固定探針。

這些是將包含在PCB設(shè)計(jì)中的不同測試點(diǎn)以及它們的用途。接下來，我們將了解為什么此測試對(duì)電路板制造如此重要。

為什么測試點(diǎn)對(duì)PCB制造很重要

自動(dòng)化測試對(duì)于驗(yàn)證印刷電路板的制造至關(guān)重要。裸板測試會(huì)檢查人造板是否具有良好的連接性，而ICT和飛針測試將驗(yàn)證板的組裝和焊接連接。

ICT和飛行探針測試的實(shí)操應(yīng)用：

在線測試（ICT）

ICT是使用專門為特定電路板設(shè)計(jì)準(zhǔn)備的測試夾具以及將在測試系統(tǒng)上運(yùn)行的隨附軟件的系統(tǒng)。使用測試點(diǎn)位置和CAD數(shù)據(jù)庫生成的其他設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)來創(chuàng)建夾具和軟件，并且將對(duì)設(shè)計(jì)中的每個(gè)網(wǎng)絡(luò)使用一個(gè)探針。ICT的主要目的是通過測試每個(gè)網(wǎng)絡(luò)與其相關(guān)零件引腳的良好連接來驗(yàn)證電路板的組裝，但它也可以用于測試電路板的功能。

ICT測試裝置和軟件開發(fā)成本高昂且耗時(shí)。測試夾具非常復(fù)雜，其中包含成千上萬的探針，為電路板修訂而改變夾具的成本也非常昂貴。不過，一旦開發(fā)完成，在線測試將非常快速地測試大量電路板。對(duì)于批量生產(chǎn)而言，速度和功能測試的優(yōu)勢迅速抵消了ICT的開發(fā)時(shí)間和成本。

飛針測試

該系統(tǒng)還旨在驗(yàn)證組裝電路板的完整性，但這與ICT完全不同。代替測試夾具，只有兩到六個(gè)探針可以飛來飛去訪問板上的每個(gè)測試點(diǎn)。無需構(gòu)建昂貴的測試夾具，即可快速，廉價(jià)地安裝飛行探針系統(tǒng)。此外，需要對(duì)測試系統(tǒng)進(jìn)行更改的任何電路板更改都可以輕松地重新編程。

飛針的缺點(diǎn)是非常慢。ICT幾乎可以即時(shí)測試板上的所有點(diǎn)，而飛行探針系統(tǒng)則必須將其探針操縱到每個(gè)單獨(dú)的測試點(diǎn)。在大板上，這可能會(huì)花費(fèi)很長時(shí)間，并且消除了進(jìn)行功能測試的能力。但是，對(duì)于原型或小批量生產(chǎn)，使用飛針進(jìn)行測試可能會(huì)非常有利。