為了充分利用物聯(lián)網(wǎng) (IoT)，人們希望更快、更有效地連接模擬和數(shù)字世界。在這股熱潮中，人們極易忽略基準(zhǔn)電壓源所發(fā)揮的關(guān)鍵作用，然而此舉甚不明智?；鶞?zhǔn)電壓是模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 和數(shù)模轉(zhuǎn)換器 (DAC)“判斷”模擬輸入值和輸出值的主要標(biāo)準(zhǔn)，有助于確保信號(hào)和數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換的精度，但前提是基準(zhǔn)電壓源選擇適當(dāng)且應(yīng)用得當(dāng)。

本文簡要說明基準(zhǔn)電壓源的結(jié)構(gòu)和特性，并介紹基準(zhǔn)電壓源的選型。本文以Analog Devices的ADR43x系列為實(shí)例介紹基準(zhǔn)電壓源，說明新型電壓基準(zhǔn)的各種特性、增強(qiáng)功能及性能，以便設(shè)計(jì)人員善加利用以充分發(fā)揮其優(yōu)勢。此外，本文還將展示 ADR43x 器件的應(yīng)用方法，如何將其保持在可接受限值范圍內(nèi)，從而使 ADC、DAC 和系統(tǒng)作為一個(gè)整體來充分發(fā)揮潛力。發(fā)燒友公眾號(hào)回復(fù)資料和郵箱地址可以獲取電子資料一份。

基準(zhǔn)電壓源的關(guān)鍵作用

基準(zhǔn)電壓源的基本形式是一個(gè)三端子器件，分別連接電源軌、接地（公共）和精密輸出電壓（圖 1）。如果基準(zhǔn)源選型或應(yīng)用不當(dāng)，就會(huì)獲得不準(zhǔn)確的基準(zhǔn)電壓，從而影響轉(zhuǎn)換器輸出的有效性和可信度。

圖 1：基準(zhǔn)電壓源的基本形式是連接輸入電壓、輸出基準(zhǔn)電壓和接地（公共）的三端子器件，圖中所示為 Analog Devices 的LT6656系列中的LT6656AIS6-2.5器件。（圖片來源：Analog Devices）

根據(jù)標(biāo)稱輸出電壓、精度和容差及其他參數(shù)選擇合適的基準(zhǔn)源后，設(shè)計(jì)人員所面臨的挑戰(zhàn)在于如何使用該基準(zhǔn)源使指定性能完全滿足應(yīng)用要求，而不降低器件的性能。這一點(diǎn)的重要性不容小覷。如上所述，基準(zhǔn)電壓是 ADC 在將電壓信號(hào)數(shù)字化時(shí)判斷模擬輸入電壓的主要標(biāo)準(zhǔn)。而對(duì)于 DAC 而言，穩(wěn)定可靠的基準(zhǔn)電壓源能讓轉(zhuǎn)換器生成與輸入數(shù)字代碼相對(duì)應(yīng)的精確模擬輸出電壓。

基準(zhǔn)源選型

固態(tài)基準(zhǔn)電壓源主要采用三種常用技術(shù)：掩埋齊納二極管、利用晶體管 Vbe的帶隙基準(zhǔn)電壓源，以及 Analog Devices 的 XFET?配置，其中使用兩個(gè)結(jié)型場效應(yīng)管 (JFET) 串聯(lián)工作（美國專利號(hào) 5,838,192）。

雖然基準(zhǔn)電壓源設(shè)計(jì)人員可能會(huì)討論各種方法之間的細(xì)微差別和各自屬性（理由充分），但對(duì)于大多數(shù)基準(zhǔn)電壓源用戶而言，重點(diǎn)仍在于性能、利弊權(quán)衡、應(yīng)用和成本問題。本文采取的亦是這種觀點(diǎn)。

由于所使用技術(shù)的器件基本物理特性，基準(zhǔn)電壓源的內(nèi)部核心基準(zhǔn)電壓值可能比較“怪異”，但是基準(zhǔn)電壓源的內(nèi)部電路設(shè)計(jì)旨在確保輸出電壓與轉(zhuǎn)換器分辨率匹配良好，并且能夠滿足系統(tǒng)需求。

例如，許多基準(zhǔn)源以系列產(chǎn)品上市，除輸出電壓值有所不同外，器件的其他性能均相同。可選擇的輸出電壓值如 2.048 V、2.5 V、3.0 V、4.096 V 和 5.0 V。其中，2.048 V 和 4.096 V 基準(zhǔn)電壓能夠“均勻”地映射到轉(zhuǎn)換器分辨率，因此這兩種規(guī)格最為常用；例如，使用 4.096 V 基準(zhǔn)源的 12 位轉(zhuǎn)換器的標(biāo)稱比例為 1 mV/離散間隔數(shù)。

初始基準(zhǔn)精度以百分比或毫伏為單位標(biāo)定；精度差異可能較大，因?yàn)槟承?yīng)用的精度要求比其他應(yīng)用高。通常，精度越高，實(shí)現(xiàn)和維持精度的難度越大；就典型基準(zhǔn)源規(guī)格而言，最大誤差為 ±0.1%（所有情況下適用）。然而，基礎(chǔ)拓?fù)鋵W(xué)與工藝技術(shù)的進(jìn)步使得這一規(guī)格得以改進(jìn)。例如，4.096 V 的 ADR434 基準(zhǔn)源采用 XFET 技術(shù)，初始精度為 ±5 mV（A 后綴）或 ±1.5 mV（B 后綴）。

不過，對(duì)許多應(yīng)用而言，基準(zhǔn)源的穩(wěn)定性和長期一致性比絕對(duì)精度更為重要。原因可能在于數(shù)字信號(hào)可進(jìn)行后續(xù)校正；或是相較于絕對(duì)精度，比較結(jié)果及信號(hào)轉(zhuǎn)換更為重要，而這兩者都受基準(zhǔn)源穩(wěn)定性直接影響。因此，選擇基準(zhǔn)源時(shí)必須在所需的絕對(duì)精度與穩(wěn)定性之間進(jìn)行權(quán)衡，并考慮如何保持穩(wěn)定性。

考量穩(wěn)定性因素時(shí)還需深思熟慮。是否僅作短期使用，例如簡單試驗(yàn)時(shí)用于獲取數(shù)據(jù)？或是長期數(shù)據(jù)采集，期限超過一年或更長時(shí)間？每個(gè)項(xiàng)目啟動(dòng)之前，設(shè)計(jì)人員都必須回答這些問題。

外部基準(zhǔn)源對(duì)比內(nèi)部基準(zhǔn)源

另有一個(gè)更基本的問題：您需要配置獨(dú)立外部基準(zhǔn)源嗎？Analog Devices 的AD7605-4BSTZADC 等轉(zhuǎn)換器具有內(nèi)部基準(zhǔn)電壓源，可節(jié)省電路板空間和物料清單 (BOM)（圖 2）。此外，從規(guī)格書可知，該器件具有完全特性化的 ADC 讀數(shù)精度，因?yàn)榛鶞?zhǔn)源的性能表現(xiàn)為轉(zhuǎn)換器 IC 整體性能的一部分。

圖 2：16 位 AD7605-4BSTZ 等許多 ADC 都具有內(nèi)部基準(zhǔn)電壓源。由于基準(zhǔn)源性能已納入轉(zhuǎn)換器的整體規(guī)格，此舉不但可以節(jié)省空間和減少 BOM，還能簡化誤差預(yù)算分析。（圖片來源：Analog Devices）

然而，即使轉(zhuǎn)換器內(nèi)核適用，內(nèi)部基準(zhǔn)源可能仍無法提供所需的性能，因此多數(shù)轉(zhuǎn)換器都可連接外部基準(zhǔn)源。請(qǐng)注意，對(duì)于應(yīng)用特定性和成本敏感度較高的轉(zhuǎn)換器（例如用于低端音頻通道的轉(zhuǎn)換器），內(nèi)部轉(zhuǎn)換器可能就已符合目標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)，因此無需使用外部基準(zhǔn)源。盡管如此，因?yàn)閮?nèi)部基準(zhǔn)源的性能可能與相關(guān)轉(zhuǎn)換器的規(guī)格相當(dāng)，所以可以簡單認(rèn)為，外部基準(zhǔn)源的性能表現(xiàn)通常比內(nèi)部基準(zhǔn)源更為出色。

即使內(nèi)部基準(zhǔn)電壓源足以滿足需求，出于另一原因仍需考慮使用外部基準(zhǔn)電壓源。設(shè)計(jì)中包含多個(gè)轉(zhuǎn)換器 IC 時(shí)，各個(gè)內(nèi)部基準(zhǔn)源可能有所不同或不能以相同的方式跟蹤彼此。因此，單純因?yàn)榛鶞?zhǔn)源的差異就會(huì)導(dǎo)致結(jié)果數(shù)據(jù)不一致，這會(huì)造成無法校正的誤差，從而使數(shù)據(jù)難以相關(guān)聯(lián)。

基于上述原因，對(duì)于具有多個(gè)轉(zhuǎn)換器的高性能系統(tǒng)，通常最好共用單個(gè)外部基準(zhǔn)源。然而，這又會(huì)引起人們質(zhì)疑由單個(gè)基準(zhǔn)源“驅(qū)動(dòng)”多個(gè)轉(zhuǎn)換器是否會(huì)降低其基本性能。下面將對(duì)這一顧慮做進(jìn)一步討論。

維持基準(zhǔn)源的性能

除初始精度和容差規(guī)格外，基準(zhǔn)源還有一些問題必須解決，以確保性能保持在可接受限值范圍內(nèi)。這些問題包括：

1. 布局問題，包括電壓降和噪聲
2. 輸出驅(qū)動(dòng)（拉出/灌入）、負(fù)載緩沖和瞬態(tài)性能
3. 短期穩(wěn)定性和溫度引起的漂移
4. 由于老化、物理應(yīng)力和封裝導(dǎo)致的長期漂移

1.布局問題，包括電壓降和噪聲：與所有敏感的模擬信號(hào)一樣，即使是靜態(tài)電壓信號(hào)，也會(huì)造成基準(zhǔn)源輸出和轉(zhuǎn)換器之間的阻抗 (IR) 壓降過大。雖然基準(zhǔn)源負(fù)載大多較小，僅僅只有數(shù)十毫安，但即使是 10 mA 的小電流負(fù)載通過 100 mΩ 電阻也會(huì)產(chǎn)生 1 mV 電壓降，這可能會(huì)帶來相當(dāng)大的誤差預(yù)算。

ADR43x 系列基準(zhǔn)電壓源能克服這一問題，其中使用開爾文連接配置，將導(dǎo)線電阻加入外部運(yùn)算放大器（運(yùn)放）的強(qiáng)制回路內(nèi)（圖 3）。放大器可檢測負(fù)載端的電壓，因此運(yùn)算放大器的回路控制強(qiáng)制輸出補(bǔ)償導(dǎo)線壓降，從而在負(fù)載端產(chǎn)生正確的電壓。

圖 3：ADR43x 系列器件可通過外部運(yùn)算放大器配置為開爾文連接，由于從基準(zhǔn)源輸出連接至轉(zhuǎn)換器基準(zhǔn)電壓輸入的任何 IR 壓降都在反饋回路內(nèi)，因而可以校正損耗。（圖片來源：Analog Devices）

由于負(fù)載噪聲、接地（公共）噪聲以及拾取自去耦不充分的電源軌噪聲，外部噪聲也會(huì)影響基準(zhǔn)電壓源，這與轉(zhuǎn)換器的情況一樣。此外，還需考慮基準(zhǔn)源的內(nèi)部噪聲，通常分為低頻噪聲（0.1 Hz 至 10.0 Hz）和高頻噪聲（10 Hz 至 25 kHz）。ADR43x 系列等器件中的高性能基準(zhǔn)源具有低頻噪聲（峰峰值 (p-p) 低于 3.5 μV）和高頻噪聲（10 Hz 至 10 kHz 時(shí)約為 200 μV [峰值]）。

ADR431BRZ-REEL7的噪聲強(qiáng)度譜如圖所示（圖 4）。對(duì)于不同的容性負(fù)載，曲線在大約 1 kHz 以下相對(duì)平坦，然后逐漸上升；容性負(fù)載為零時(shí)，曲線始終平坦。

圖 4：對(duì)于不同的容性負(fù)載，ADR431BRZ-REEL7 的噪聲強(qiáng)度在頻率低于 1 kHz 時(shí)相對(duì)平坦，然后逐漸上升；容性負(fù)載為零，曲線始終平坦，并且容性負(fù)載越大，噪聲強(qiáng)度上升越快。（圖片來源：Analog Devices）

降低噪聲的常用策略是添加簡單的電阻-電容 (RC) 濾波器。不過在較大的容性負(fù)載下，許多基準(zhǔn)源的輸出放大器可能會(huì)變得不穩(wěn)定且出現(xiàn)振蕩，因此除非基準(zhǔn)源設(shè)計(jì)需要，否則通常不會(huì)在輸出端連接數(shù)微法的大電容。對(duì)于 ADR43x 器件而言，如果高頻噪聲仍然超出要求，那么基本解決辦法是在基準(zhǔn)源輸出端接入簡單的 RC 濾波器（圖 5）。

圖 5：ADR43x 基準(zhǔn)電壓源的基本連接只需少量無源外部元器件，輸入端接入兩個(gè)電容，輸出端則接入一個(gè) 0.1 μF 基本電容。（圖片來源：Analog Devices）

請(qǐng)注意，ADR43x 系列的每款基準(zhǔn)源均提供一個(gè)外部引腳，可用于訪問內(nèi)部補(bǔ)償節(jié)點(diǎn)，允許在關(guān)鍵電路點(diǎn)添加外部串聯(lián) RC 電路（圖 6）。

圖 6：ADR43x 器件封裝具有用戶可訪問的引腳（引腳 7），以便為內(nèi)部運(yùn)算放大器添加所需的補(bǔ)償。（圖片來源：Analog Devices）

添加 RC 電路可讓用戶對(duì)內(nèi)部運(yùn)算放大器“過補(bǔ)償”，以避免不穩(wěn)定。用戶可以選擇電容值，使噪聲強(qiáng)度隨頻率變化較小，達(dá)到可接受水平（圖 7）。

圖 7：使用 ADR43x 基準(zhǔn)源的設(shè)計(jì)中，設(shè)計(jì)人員可以選擇 RC 電路的參數(shù)值以實(shí)現(xiàn)所需的降噪水平，而無需擔(dān)心因此造成輸出不穩(wěn)定。各種 RC 組合的噪聲強(qiáng)度與頻率的關(guān)系如圖所示。（圖片來源：Analog Devices）

2.輸出驅(qū)動(dòng)（拉出/灌入）、負(fù)載緩沖和瞬態(tài)性能：大多數(shù)基準(zhǔn)源都內(nèi)置緩沖，可以實(shí)現(xiàn)高達(dá) 5 或 10 mA 的拉出和灌入電流。如果所需的負(fù)載電流大于基準(zhǔn)源的額定拉/灌電流，則需要添加外部緩沖器（通常使用單位增益）。然而，設(shè)計(jì)人員可能不想添加緩沖器，因?yàn)槠淙毕荩ú痪_、漂移）的潛在影響可能會(huì)使基準(zhǔn)源超出系統(tǒng)規(guī)格要求。

ADR43x 系列基準(zhǔn)源的額定拉/灌電流相對(duì)較大，分別為 +30 mA 和 -20 mA，因此多數(shù)情況下不需要添加外部電流緩沖器。

此外，基準(zhǔn)源負(fù)載并非恒定，而是可能隨著 ADC（或 DAC）的內(nèi)部轉(zhuǎn)換而有所變化。如果轉(zhuǎn)換器的外部基準(zhǔn)源輸入添加了緩沖器，就不會(huì)出現(xiàn)問題；否則就必須檢查基準(zhǔn)源的瞬態(tài)性能。在某些情況下，基準(zhǔn)源和轉(zhuǎn)換器之間需要添加外部緩沖器，以便驅(qū)動(dòng)瞬態(tài)負(fù)載；同樣，系統(tǒng)誤差分析時(shí)也必須考慮緩沖器的性能。

3.短期穩(wěn)定性和溫度引起的漂移：有源電路的建立和芯片的熱梯度穩(wěn)定都需耗費(fèi)一定時(shí)間，因此基準(zhǔn)源的輸出將出現(xiàn)漂移。多數(shù)基準(zhǔn)電壓源的導(dǎo)通建立時(shí)間通常取決于負(fù)載電容，但負(fù)載較小時(shí)，ADR431 受負(fù)載電容影響很?。▓D 8 和圖 9）。

圖 8：無負(fù)載時(shí) ADR431 的導(dǎo)通建立時(shí)間約為 8 μs。（圖片來源：Analog Devices）

圖 9：接入 0.01 μF 負(fù)載時(shí)，ADR431 的導(dǎo)通建立時(shí)間仍然約為 8 μs。（圖片來源：Analog Devices）

規(guī)格書注明了指定溫度下的基準(zhǔn)源精度，通常與初始精度有所不同。由于溫度會(huì)引起輸出的變化，以致很容易超出系統(tǒng)的精度要求，因此需要選擇漂移規(guī)格相對(duì)較小的基準(zhǔn)源。ADR43x 系列基準(zhǔn)源的額定工作溫度范圍為 -40℃ 至 +125℃；ADR434A（4.096 V，±5 mV 初始精度）的溫度系數(shù)為 10 ppm/℃，而該系列的其他器件則低至 3 ppm/℃。

4.由于老化、物理應(yīng)力和封裝導(dǎo)致的長期漂移：漂移往往是造成基準(zhǔn)電壓不準(zhǔn)確的重要原因。假設(shè)應(yīng)用要求基準(zhǔn)電壓源在工作溫度范圍內(nèi)的總精度為 ±0.1%，那么設(shè)計(jì)人員可選擇具有 ±0.05% 初始精度和超低溫度系數(shù) (±5 ppm/℃) 的高性能基準(zhǔn)源。

在 25℃ 至 125℃ 范圍內(nèi)，由溫度系數(shù)引起的漂移為 5 ppm/℃ × 100℃，即 500 ppm (0.05%)，因此總誤差（初始誤差 + 漂移誤差）滿足 ±0.1% 的應(yīng)用要求。某些高端應(yīng)用將基準(zhǔn)源放置在溫度可控的恒溫器中，這就類似于在溫度恒定環(huán)境中用于提供基準(zhǔn)頻率的晶振和時(shí)鐘，但對(duì)于多數(shù)情況而言此舉既不可取也不實(shí)用。

基準(zhǔn)源精度越高，為了維持精度，就更需要考慮基準(zhǔn)電壓的長期漂移 (LTD) 影響。然而，由于 LTD 也受生產(chǎn)程序和產(chǎn)品使用模式直接影響，而非僅憑周全的設(shè)計(jì)和相關(guān)組件的選型就能補(bǔ)償，因此 LTD 給設(shè)計(jì)工程師提出了一項(xiàng)特殊挑戰(zhàn)。電路板裝配時(shí)的封裝應(yīng)力是造成 LTD 的主要原因。暴露于電路板焊接過程的高溫環(huán)境下，塑料封裝的 IC 會(huì)稍微變形，這種由應(yīng)力引起的尺寸變化會(huì)對(duì)基準(zhǔn)電壓源芯片造成影響。

盡管數(shù)小時(shí)、數(shù)天甚至數(shù)周后，這類裝配引起的機(jī)械應(yīng)力就會(huì)消失并恢復(fù)正常，但是基準(zhǔn)電壓源輸出卻因此發(fā)生了改變。變化量取決于布局、器件封裝及其他因素，量級(jí)通常為數(shù)十百萬分率。此外，器件生產(chǎn)滿一年后，基準(zhǔn)源的芯片與封裝會(huì)趨于“穩(wěn)定”，因此某些基準(zhǔn)源規(guī)格書注明了這個(gè)更長時(shí)間段的漂移。

多數(shù)基準(zhǔn)源規(guī)格書提供的 LTD 規(guī)格為前 1000 小時(shí)工作的典型漂移；ADR43x 系列基準(zhǔn)源規(guī)格書注明 1000 小時(shí)的 LTD 為 40 ppm（典型值），但也請(qǐng)注意，后續(xù) 1000 小時(shí)的漂移會(huì)明顯低于前 1000 小時(shí)。

針對(duì)這種由應(yīng)力引起的漂移，一種解決方案是在數(shù)小時(shí)內(nèi)使電路板經(jīng)過幾次熱循環(huán)，因?yàn)檫@將加速內(nèi)應(yīng)力的消除；另一種解決方案則是考慮使用陶瓷封裝的基準(zhǔn)電壓源，因?yàn)樘沾煞庋b通常比塑料封裝更穩(wěn)定，彎曲強(qiáng)度亦比塑料封裝高。但是，許多基準(zhǔn)源不能采用陶瓷封裝；但這可能并不構(gòu)成影響，因?yàn)樽钚乱淮芰戏庋b基準(zhǔn)源提供的 LTD 性能堪比陶瓷封裝器件。

最后，設(shè)計(jì)人員也不能忽視器件電源軌的瞬態(tài)電壓對(duì)基準(zhǔn)電壓源的影響；畢竟就許多方面而言，基準(zhǔn)源都是一種特殊“電源”。因此，輸出精度不僅受負(fù)載變化影響，無干擾的穩(wěn)定直流 (DC) 輸入線路是維持指定性能的另一個(gè)因素。換言之，精心設(shè)計(jì)的基準(zhǔn)電壓源需要精密調(diào)節(jié)的功率輸入。在 7 至 18 V 的輸入電壓范圍內(nèi)，ADR431 規(guī)格書注明線路調(diào)節(jié) ΔVOUT/ΔVIN典型值為 5 mV/ppm，最大值為 20 mV/ppm（圖 10）。

圖 10：基準(zhǔn)電壓源電源軌的瞬態(tài)電壓會(huì)對(duì)器件性能產(chǎn)生不利影響，但是良好的內(nèi)部線路調(diào)節(jié)可以解決這一問題。例如，線路瞬態(tài)電壓為 500 mV 時(shí)，ADR43x 器件的輸出并無變化。（圖片來源：Analog Devices）

總結(jié)

無論作為 ADC 或 DAC 的內(nèi)部組件還是分立的外部元器件，基準(zhǔn)電壓源是任何數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器應(yīng)用系統(tǒng)的關(guān)鍵構(gòu)件。隨著器件基本精度、漂移及其他參數(shù)的改進(jìn)，系統(tǒng)級(jí)性能也相應(yīng)提升。

如上所述，基準(zhǔn)電壓源具有各種特性和增強(qiáng)功能（拓?fù)浜凸に嚪矫妫┛晒┰O(shè)計(jì)人員選擇。這些貌似簡單的基準(zhǔn)電壓源不但新增各項(xiàng)功能，以確保在各種靜態(tài)和動(dòng)態(tài)操作條件下保持精度和性能穩(wěn)定性，而且為設(shè)計(jì)人員提供多種選項(xiàng)以滿足嚴(yán)格的設(shè)計(jì)要求。