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      電子發(fā)燒友網(wǎng)>MEMS/傳感技術(shù)>NAC-206具有自測試的電路圖

      NAC-206具有自測試的電路圖

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      2019-11-26 16:36:300

      關(guān)于芯片設(shè)計的前端設(shè)計實現(xiàn)

      LBIST (Logic build-in-self test), 邏輯內(nèi)建自測試。和MBIST同理，在關(guān)鍵邏輯上加上自測試電路，看看邏輯cell有沒有工作正常。BIST總歸會在芯片里加入自測試邏輯，都是成本。
      2022-08-29 15:33:302169

      UM2986 STM32U5系列IEC 60730自測試庫用戶指南

      UM2986 STM32U5系列IEC 60730自測試庫用戶指南
      2022-11-22 08:21:450

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